Оже-спектроскопия
Cтраница 1
Оже-спектроскопия применяется для изучения состава поверхностного слоя, обычно совместно с ДМЭ, и позволяет исследовать кинетику процессов адсорбции и десорбции. [1]
Оже-спектроскопия применяется для изучения состава поверхностного слоя, обычно совместно с ДМЭ, и позволяет исследовать кинетику процессов адсорбции и десорбции. [2]
Оже-спектроскопия идентифицирует химические элементы в зоне глубиной, равной приблизительно четырем атомным слоям. Показания оже-спектрометра фиксируются осциллографом. Блок развертки обеспечивает сканирование полного спектра элементов за 0 1 с. Тем самым создается возможность фиксировать изменение элементов на движущейся поверхности в динамике. [3]
В оже-спектроскопии поверхность бомбардируют электронами с высокой энергией ( 2 - 3 кэВ), которые при столкновении с атомом выбивают из его внутренней оболочки вторичные электроны. Энергия таких испускаемых атомом электронов определяется энергиями атомных орбиталей этого атома. Следовательно, измеряя энергию испускаемых электронов, можно идентифицировать атом. Поскольку при бомбардировке поверхности электроны не способны проникать глубоко, оже-электроны представляют собой чувствительный зонд для изучения состава верхних поверхностных слоев. [4]
В оже-спектроскопии поверхность бомбардируют электронами с высокой энергией ( 2 - 3 кэВ), которые при столкновении с атомом выбивают из его внутренней оболочки вторичные электроны. Энергия таких испускаемых атомом электронов определяется энергиями атомных орбиталей этого атома. Следовательно, измеряя энергию испускаемых электронов, можно идентифицировать атом. Поскольку при бомбардировке поверхности электроны не способны проникать глубоко, оже-электроны представляют собой чувствительный зонд для изучения состава верхних поверхностных слоев. [5]
Метод Оже-спектроскопии основан на явлении эмиссии вторичных электронов, которые возникают при облучении вещества потоком электронов. Оже, состоит в следующем. [6]
Методом Оже-спектроскопии установлено наличие в защитных покрытиях МДО-образцов фосфора в концентрациях, сопоставимых о концентрацией титана. Выявлена корреляция коррозионной стойкости оксидных покрытий о содержанием в них соединений фосфора. Методом растровой электронной микроскопии качественно охарактеризована микроструктура поверхности изученных образцов оксидированного титана. [7]
Метод Оже-спектроскопии основан на явлении эмиссии вторичных электронов, которые возникают при облучении вещества потоком электронов. Оже, состоит в следующем. [8]
 |
Угловое распределение интенсивности молекулярных пучков Г12, D2 и HD, рассеянных пленкой ориентированного ( 111 серебра. [9] |
Обычно оже-спектроскопию и ДМЭ применяют вместе, поскольку аппаратурное оформление обоих методов в принципе одинаково. Чтобы вклад поверхностных атомов в измеряемый спектр был максимальным, в оже-спектроскопии необходимо использовать электроны, падающие па поверхность под малым углом скольжения. Модулируя напряжение на замедляющей сетке ( рис. V-15), можно получать на детекторе сигнал, соответствующий электронам только определенной энергии. На рис. V-27 показан дифференциальный спектр грани ( НО) вольфрама. Обратите внимание, как очищается поверхность вольфрама при удалении примесей углерода и кислорода. [10]
Фотоэлектронная и оже-спектроскопия: Пер. [11]
Экспериментальное осуществление Оже-спектроскопии требует глубокого вакуума, чтобы предотвратить загрязнение поверхности в результате адсорбции различных примесей из газовой фазы. Расчеты показывают, что при давлении 1 33 - 10 - Па монослой адсорбированного газа образуется всего за 1 с, тогда как при 1 33 - 10 8 Па для этого требуется более 2 5 ч, что превышает время анализа. Поэтому эксперимент проводят при давлении 1 33 - 10 - 8 Па. Чтобы обеспечить выбивание электронов с К-уровня, энергия падающих электронов в Оже-спектроскопии должна составлять несколько килоэлектронвольт. Пучок падающих электронов обычно направляют. Это позволяет регистрировать состав атомов, находящихся на самой поверхности. N от их энергии, постепенно изменяют напряжение U на отклоняющем электроде. В результате этого при каждом значении LJ через выходное отверстие металлической камеры проходят и регистрируются только те электроны, энергия которых заключена в узком интервале энергий Де. [12]
Сг определена методом Оже-спектроскопии. Из рис. 75 видно, что восприимчивость к коррозионному растрескиванию растет линейно с ростом Сг до 0 2, а при большем обогащении границ зерен фосфором уже не меняется. [13]
Все три метода - оже-спектроскопия, электронная спектроскопия для химического анализа и масс-спектроскопия вторичных ионов - обычно требуют создания высокого вакуума, а проведение анализа распределения элементов сопровождается разрушением образца. Элементный анализ, основанный на обратном резерфордовском рассеянии [56], относится к неразрушающим методам, однако для получения зондирующего луча необходимо использовать ускоритель частиц. [14]
 |
Кривые изменения параметра а кристаллической решетки по глубине зоны деформации меди при трении о сталь в среде глицерина. [15] |
Страницы: 1 2 3 4