Оже-спектроскопия

Cтраница 2

Радиоизотопный анализ и метод оже-спектроскопии подтверждают полученные данные о перераспределении легирующих элементов сплава при трении. Они указывают на резкое различие содержания легирующих элементов в поверхностных слоях ( вплоть до полного их растворения при формировании сервовитной медной пленки) при разных условиях трения, в частности при использовании смазочных сред разной природы. Установлено [37 ] наличие на рентгенограммах двух систем дифракционных линий, соответствующих материалам с резко различающимися периодами кристаллических решеток, что свидетельствовало о существовании межфазной границы, разделяющей основной материал образца и прилегающий к нему сервовитный слой. Послойный эмиссионный микроспектральный анализ ( с использованием лазерного луча) показал, что под сервовитной пленкой на границе со сталью имеется слой окислов меди, легирующих элементов или примесей толщиной около 0 1 мкм. [16]

В нем с помощью Оже-спектроскопии, растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского микроанализа показано, что наряду с зерно-граничной сегрегацией фосфора в твердом растворе при развитии отпускной хрупкости в Сг - Ni - Мо - V и Сг - N1 сталях на поверхностях раздела крупных зернограничных карбидов с матрицей могут образовываться выделения, имеющие ОЦК-решетку и содержащие фосфор, кремний и молибден. Устранение охрупчивания при повторном нагреве до 650 С сопровождается, по данным [298], растворением этих выделений. Однако авторы [298] не установили, имеет ли непосредственное отношение к межзеренному охрупчиванию наблюдаемое образование и растворение зернограничных фаз. [17]

Параметры пороговых переключателей, изготовленных из экспонированных в космосе образцов и образцов-спутников. [18]

Данные масс-спектроскопии, подтвержденные Оже-спектроскопией, позволяют сделать вывод об образовании оксидной пленки и органических загрязнений поверхности стекла в условиях открытого космоса. [19]

Из методов ионно-электронной спектроскопии наиб, применима ионная оже-спектроскопия, используемая преим. В отличие от электронной оже-спектроско-пии, она обладает селективностью: определ. При этом чувствительность метода часто оказывается существенно более высокой. Причина избирательности кроется в обменном механизме ионизации энергетич. Применение метода целесообразно, когда производится ионное профилирование исследуемого объекта и, следовательно, в приборе имеется готовый ионный пучок. [20]

Впервые проведено комплексное исследование ГЦК углерода методами Оже-спектроскопии, электронной дифракции, просвечивающей электронной микроскопии с атомным разрешением, КР-спектроскопии, ИК Фурье-спектроскопии, Фурье-синтез кристаллического потенциала, свидетельствующие о том, что эта фаза - новая фаза углерода. Химический анализ показал, что ГЦК-фаза является чисто углеродной. Рассчитанное по данным электронной дифракции распределение кристаллического потенциала внутри элементарной ячейки кристалла показало, что атомы углерода находятся только в позиции ГЦК. [21]

Вторая группа данных получена в результате исследований методом оже-спектроскопии поверхностного состава образцов сплава Ni-Си в виде пластин ( как моно -, так и поликристаллических) с содержанием никеля в объеме 16 - 17 ат. Во всех случаях состав поверхности образца оказался идентичен его составу в объеме. Использование метода оже-спектроскопии для количественного анализа состава сплавов оказалось не слишком эффективным из-за трудности адекватной калибровки; тем не менее нельзя не прийти к выводу, что в рассматриваемом случае разница между составом сплавов в объеме и на поверхности не может быть очень существенной. Поэтому различие в результатах, полученных для пленок и для пластин, по-видимому, обусловлено неполным достижением равновесного состояния в последних. Трудность достижения равновесного состояния для пластин хорошо известна [122], и отсутствие его доказывается тем, что в условиях температуры и состава, соответствующих двухфазной структуре, фазы не выделяются, если, конечно, достигнуто истинное равновесие. Очевидно, равновесие устанавливается много легче на пленках, чем на толстых пластинах; объясняется это как большей концентрацией дефектов в пленках, способствующих увеличению скорости взаимной диффузии компонентов, так и намного меньшим расстоянием диффузии в пленках. Кроме того, пластины очищали ионной бомбардировкой с последующим отжигом при температуре не менее 670 К, в то время как критическая температура выделения фаз составляет менее 570 К; из-за быстрого охлаждения однофазная структура, полученная при температуре выше критической, оказалась замороженной. Таким образом, отсутствие фазового равновесия наблюдается параллельно с отсутствием равновесия поверхностного состава. Ясно, что состав поверхности сплавов Ni-Си сильно зависит от формы образцов и условий их термической обработки. [22]

Имеется издание на русском языке: Карлсон Т. А. Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия. [23]

Структура и состав поверхности монокристаллов Pt были исследованы методами Оже-спектроскопии и дифракции медленных электронов. Полученные результаты сопоставлены с каталитическими свойствами Pt Б реакциях D - Н - обмена, дегидрирования циклогексана в бензол и гидрогенолиза циклогексана с образованием н-гексана. [24]

Группа методов рентгене - и фотоэлектронной спектроскопии, включая оже-спектроскопию, позволяет получать данные об энергиях отрыва электронов от атомов и молекул как с внешних - валентных оболочек, так и с внутренних оболочек атомного остова. Это эффективные методы структурных исследований и высокочувствительные неразрушающие аналитические методы изучения молекул в газовой фазе, поверхности твердых тел, биологических объектов и полимеров. Особенно широко и продуктивно они применяются в катализе, адсорбции, электронике, а также как методы прямого измерения энергетических характеристик электронных состояний атомов и молекул. Эти характеристики являются уникальными в отношении возможности сопоставления их с теоретическими представлениями и модельными расчетами. [25]

Исследование межкристаллитных изломов рекристаллизованного при 1600 С спеченного вольфрама методом Оже-спектроскопии показало, что основной причиной хрупкого разрушения вольфрама является не кислород и углерод, а фосфор. [26]

Исследование распределения химических элементов по толщине пиролитических пленок CdS методом оже-спектроскопии [26] показало, что в пленках, не содержащих алюминия, кислород отсутствует, тогда как хлор обнаружен в беспримесных пленках CdS и в пленках, легированных алюминием. [27]

Метод спектроскопии ионной нейтрализации, разработанный Хагструмом [12], является ветвью оже-спектроскопии. В СИН исследуемое вещество бомбардируют вместо электронов или фотонов моноэнергетическими ионами благородных газов. Ионы нейтрализуются, захватывая электроны с поверхностного слоя, а высвобождаемая при этом энергия оказывается достаточной для выброса оже-электрона. [28]

Применение улучшенной методики анализа поверхностных слоев, включая селективную хемосорбцию, Оже-спектроскопию и фотоэлектронную спектроскопию, привело к существенному прогрессу в вопросах приготовления биметаллических катализаторов и оценке полученных экспериментальных данных. [29]

Рентгеновский фотоэлектронный спектр силикагеля с химически прибитым модифицирующим слоем, содержащим концевые аминогруппы ( сферисорб-5 - амино. [30]

Страницы: 1 2 3 4