Оже-спектроскопия
Cтраница 3
Для изучения адсорбции сильно рассеивающих электроны атомов ксенона была с успехом применена Оже-спектроскопия. [31]
 |
Схема приспособления для расщепления слюды в вакууме. [32] |
В настоящее время в стандартных установках для проведения исследования методами ДМЭ и оже-спектроскопии имеется цельнометаллическая изолируемая камера для образца, которая позволяет создавать над образцом относительно высокое давление без заполнения всей установки газом при этом давлении. [33]
Экспериментальные установки обычно сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5 - 10 нм. [34]
Рентгеноэлектронную и фотоэлектронную спектроскопию объе-иняет термин электронная спектроскопия, охватывающий так-е и оже-спектроскопию. [35]
 |
Образование контраста при оптическом исследовании шлифа. а - образование рельефа на поверхности шлифа после травления хнмичс. [36] |
ПЭМ), растровая электронная микроскопия ( РЭМ), электронография, мпкрорентгепоспектральньш анализ, Оже-спектроскопия. [37]
Имеющиеся в настоящее время экспериментальные данные, полученные современными методами ( дифракцией медленных электронов, Оже-спектроскопией и др.), позволяют утверждать / 2 /, что, благодаря сравнительно непрочным связям между поверхностными атомами твердого тела и, следовательно, их большой латеральной подвижности, в поверхностных слоях твердого тела подчас наблюдается иная структура, чем в объеме. Причина такого несоответствия связана либо с биографией образцов, либо с поверхностными экзотермическими процессами, в которых твердое тело выступает в роли, например, катализатора, либо наконец, с влиянием на твердое тело различного рода жесткого излучения. [38]
Метод рентгеновского микроанализа ( фотоэлектронной спектроскопии) основан на том же принципе, что и метод Оже-спектроскопии, только для этого метода выбивание электронов с нижних уровней достигается облучением поверхности не электронами, а жестким рентгеновским излучением. Этот метод обладает большей разрешающей способностью по энергиям вторичных электронов, и благодаря этому при помощи рентгеновского микроанализатора можно установить валентное состояние одного и того же элемента в различных поверхностных соединениях. [39]
В 1953 г. были зарегистрированы пики Оже-электронов при экспериментальном изучении спектра вторичных электронов и предложен метод Оже-спектроскопии. [40]
Метод рентгеновского микроанализа ( фотоэлектронной спектроскопии) основан на том же принципе, что и метод Оже-спектроскопии, только для этого метода выбивание электронов с нижних уровней достигается облучением поверхности не электронами, а жестким рентгеновским излучением. Этот метод обладает большей разрешающей способностью по энергиям вторичных электронов, и благодаря этому при помощи рентгеновского микроанализатора можно установить валентное состояние одного и того же элемента в различных поверхностных соединениях. [41]
Метод рентгеновского микроанализа ( фотоэлектронной спектроскопии) основан на том же принципе, что и метод Оже-спектроскопии, только для этого метода выбивание электронов с нижних уровней достигается облучением поверхности не электронами, а жестким рентгеновским излучением. Этот метод обладает большей разрешающей способностью по энергиям вторичных электронов, и благодаря этому при помощи рентгеновского микроанализатора можно установить валентное состояние одного и того же элемента в различных поверхностных соединениях. [42]
Полученный в результате экспериментов углеродный осадок исследовался на просвечивающем электронном микроскопе, методами ИК -, рамановской и оже-спектроскопии, рентгеноструктурным анализом. [43]
Определяя на одних и тех же образцах глубину канавок травления и концентрацию фосфора на границах зерен ( прямыми измерениями с помощью Оже-спектроскопии), авторы способа показали, что между этими величинами действительно наблюдается хорошо выраженная линейная зависимость, с помощью которой по глубине канавок травления, можно установить степень обогащения границ зерен фосфором. Показано [41], что этот метод может быть эффективно использован для изучения зернограничной сегрегации фосфора в тех случаях развития обрауимой отпускной хрупкости, когда доля межзеренного разрушения невелика, в связи с чем затруднено применение Оже-электрон-ной спектроскопии. [44]
При исследовании процессов межзеренного примесного охрупчива-ния высокопрочной Ni - Мо стали HY-130, содержащей - 0 01 % N, методом Оже-спектроскопии обнаружена [80,89] зернограничная сегрегация азота, усиливающаяся от 0 16 % ( ат. [45]
Страницы: 1 2 3 4