Cтраница 2
Спектры оже-электронов регистрируют с помощью оже-спектрометров, к-рые состоят из источника ионизирующего излучения, камеры для размещения исследуемых образцов, энергоанализатора и детектора электронов. Для детектирования электронов служат электронные умножители ( в частности, каналтроны), имеющие высокую эффективность счета низкоэнергетич. [16]
Энергия оже-электронов чувствительна к химическому окружению атома, что проявляется в химических сдвигах, хотя собственная ширина линий должна ограничивать их использование в аналитических целях. Тем не менее химические сдвиги легко наблюдать экспериментально, но для анализа их пока применяют редко. Объясняется это тем, что, поскольку оже-процесс связан с тремя электронными уровнями, суммарный химический сдвиг является результатом химических сдвигов на каждом электронном уровне. Интерпретация химических сдвигов в оже-спектрах значительно менее определенна, чем интерпретация химических сдвигов в фотоэлектронной спектроскопии, так как последние связаны только с одним уровнем и где к тому же ширина линий меньше. [17]
Энергия оже-электронов определяется природой испускающих их атомов и взаимодействием этих атомов с окружающими, что приводит к небольшим изменениям энергии оже-электронов. Поэтому по оже-спектрам можно определить элементный состав приповерхностных слоев твердых тел, получать информацию о межатомных взаимодействиях, осуществлять хим. анализ газов. Анализ элементного состава производится путем сопоставления оже-спектров с табличными данными. [19]
Серия спектра Оже-электронов определяется типом первичной электронной вакансии, группа - типом вторичных вакансий. [20]
Поскольку испускание оже-электронов является вторичным процессом, безразлично каким путем достигается первоначальная ионизация атома с образованием положительной дырки [ 110, с. [21]
Кинетическая энергия Оже-электрона определяется разницей двух энергий: энергии внутренней оболочки, с которой был выбит электрон, и энергии уровня, с которого вылетел Оже-электрон. Таким образом, Оже-злектро-ны являются характеристическими: их энергии характерны для данного элемента. Анализ энергий Оже-электронов, как и анализ характеристического рентгеновского излучения, позволяет определить элементный состав исследуемых образцов. [23]
Глубина выхода Оже-электронов является функцией их энергии и в меньшей степени зависит от природы вещества. Так как энергия зонда обычно по крайней мере в три раза превышает энергию рождения Оже-электронов, глубина выхода определяется не областью возбуждения, а средней длиной свободного пробега электронов. Экспериментальные данные различных авторов, собранные в [13], показывают, что длина пробега, а следовательно, и глубина выхода составляют от 0 4 до 4 нм для всех элементов. [24]
Практически регистрируются лишь Оже-электроны, образовавшиеся на глубине не более 0 5 - 3 0 нм. [25]
Поскольку глубина выхода Оже-электронов очень мала, СОМ - представляет собой метод, позволяющий создавать изображения, контраст которых будет зависеть от разности концентраций выбранного химического элемента в разных точках поверхностного слоя толщиной в несколько атомных слоев. [26]
Эти электроны называются Оже-электронами. [27]
Возбужденные в твердом теле оже-электроны должны довести до энергоанализатора ту энергию, с к-рой они вылетели из эмитирующих их атомов, поэтому необходимо, чтобы, вылетев из атома, они не испытали; неупругих взаимодействий. Это возможно лишь в том случае, когда глубина, на к-рой расположен эмитирующий оже-электрон атом, не превосходит ср. [28]
Промежуточный интервал энергий занимают характеристические Оже-электроны 3, которые будут рассмотрены ниже. [29]
![]() |
Зависимость глубины выхода электронов от энергии электронов для. [30] |