Зависимость - параметр - транзистор - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Никогда не недооценивай силы человеческой тупости. Законы Мерфи (еще...)

Зависимость - параметр - транзистор

Cтраница 1


Зависимость параметров транзистора от частоты является одним из основных факторов в определении пригодности транзистора для работы в электрической схеме. На низких частотах емкостное сопротивление этого перехода, равное 1 / со С, велико.  [1]

Зависимость параметров транзистора от температуры, времени, режима и частоты и технологический разброс накладывают специфические требования на расчет и - принципы построения схем на транзисторах. Эти требования направлены на повышение надежности радиоэлектронной аппаратуры и сводятся к следующему.  [2]

Зависимость параметров транзистора от температуры, времени, режима, частоты и технологический разброс определяют специфические требования к расчету и принципам построения схем на транзисторах.  [3]

Зависимость параметров транзистора от температуры, времени, режима, частоты и технологический резброс определяют специфические требования к расчету и принципам построения схем на транзисторах.  [4]

Зависимость параметров транзисторов от частоты обусловлена относительно большим временем движения ( пролета) носителей заряда в области базы и действием емкостей, шунтирующих переходы.  [5]

Зависимость параметров транзистора от частоты определяется тем, что пути отдельных носителей заряда от эмиттера к коллектору различны, так же как и скорость их движения.  [6]

Зависимость параметров транзистора от температуры, времени, режима и технологический разброс предъявляют специфические требования к расчету и принципам построения схем на транзисторах. Эти требования направлены на повышение надежности радиоэлектронной аппаратуры и сводятся в основном к следующим положениям.  [7]

Зависимость параметров транзисторов от температуры, электрического режима и частоты, наличие технологического разброса параметров накладывают специфические требования на расчет и принципы построения схем на транзисторах. Эти требования направлены на повышение надежности работы схемы и сводятся к следующему.  [8]

Линейные искажения определяются зависимостями параметров транзисторов от частоты и реактивными элементами усилительных устройств.  [9]

Это обусловлено тем, что зависимости параметров транзисторов от температуры и режима питания на больших отрезках являются практически линейными, что следует из материалов первой главы.  [10]

В результате получается так называемая косвенная зависимость параметров транзистора от температуры, в отличие от прямой зависимости тех же параметров от температуры при неизменной рабочей точке.  [11]

Полученные: ранее соотношения (1.38) определяют зависимость параметров транзистора от режима при коллекторных токах порядка 0 5ч - 5 ма.  [12]

13 Ключи с общим эмиттером и общим коллектором. [13]

Чтобы повысить точность получаемых результатов, следует учитывать зависимость параметров транзистора от режима.  [14]

Кроме того, при малых токах коллектора увеличивается зависимость параметров транзистора от температуры и затрудняется осуществление температурной стабилизации схемы; сильно снижается крутизна характеристики, что приводит к снижению коэффициента усиления каскада.  [15]



Страницы:      1    2    3