Определение - ориентировка
Cтраница 1
 |
Связь полярных координат нормали к отражающей плоскости с линейными координатами интерференционного максимума. [1] |
Определение ориентировки производят так же, как и в случае ла-уэграммы, полученной прямой съемкой. [2]
Определение ориентировок по построенным полюсным фигурам производят с помощью стандартных проекций ( сеток Закса), на которых изображены стереографические проекции полюсов плоскостей монокристалла с разными индексами ( Ш) при данной ориентировке кристалла относительно круга проекции. [3]
Для определения ориентировки могут быть использованы, также, если кристалл сдвойникован. [4]
Для определения ориентировки системы относительно экстремума используется искусственный пробный сигнал гармонической формы. [5]
 |
Связь между положением интерференционных максимумов лауэграммы и гномостереографическими проекциями плоскостей, вызвавших интерференцию. [6] |
Для определения ориентировки кристалла следует построить гно-мостереографические проекции плоскостей, дающих отражения. [7]
 |
Сферический треугольник ориентировки монокристалла, лауэграмма которого приведена на 107. [8] |
При определении ориентировки следует иметь в виду, что проекции интересующих направлений находят по стандартной проекции, т.е. после поворота кристалла ( новая плоскость проекций), а проекции координатных осей х, у и z остаются в первоначальной плоскости проекции. [9]
Выявление симметрии кристаллов, определение ориентировки ( расположения кристаллографических осей) может проводиться в камерах типа РКСО, а определение величины, формы и типа ячейки монокристаллов-в камерах типа РКВ-86 и РКОП; последняя камера особенно удобна для изучения неограненных кристаллов. [10]
Наличие спайности очень удобно для определения ориентировки кристалла. [11]
Камера применяется для выявления симметрии кристаллов; определения ориентировки кристаллов известных веществ - как небольших и мало поглощающих рентгеновские лучи, так и крупных и непрозрачных для рентгеновских лучей; определения направлений и выбора координатных осей в неограненных кристаллах, в том числе кристаллах неизвестных веществ; оценки величины периода идентичности вдоль основных направлений кристалла; определения отношений осевых отрезков. [12]
Сетка для расчета лауэграмм обратной съемки используется для определения ориентировки отдельных кристаллов в поликристаллических образцах и при других исследованиях. [13]
 |
Вытяжки при холодной прокатке. [14] |
Чрезвычайно интересен разработанный кафедрой металловедения того же института способ определения ориентировки зерен непосредственным наблюдением микроструктуры под микроскопом. [15]
Страницы: 1 2 3