Определение - ориентировка
Cтраница 3
К методам типа а) относится метод Лауэ: на кристалл, ориентированный под определенным углом по отношению к лучу, падает пучок немонохроматического ( белого) излучения, в котором содержится непрерывный спектр длин волн, так что какая-то из волн, имеющихся в спектре, удовлетворяет условию Вульфа - Брэгга. Этот метод применяется для определения ориентировки и симметрии монокристаллов. [31]
Ориентировка исходного аустенита однозначно определяется по трем рефлексам остаточного аустенита. Во многих случаях для определения ориентировки в принципе достаточно двух рефлексов, но для уменьшения погрешности эксперимента число регистрируемых рефлексов желательно увеличить. [32]
Реактив выявляет фигуры травления в железе и кремнистых сталях. Как и предыдущий, реактив рекомендуется для определения ориентировок зерен феррита по фигурам травления. [33]
Легко показать, что когда ось кристаллографической зоны совпадает по направлению с рентгеновским лучом, то точки проекции зоны располагаются по большому кругу, а центральное пятно полюсной фигуры имеет те же индексы, что и ось зоны. Это обстоятельство используется в настоящей работе при определении ориентировки монокристалла. [34]
В последние годы широкое распространение получают методы рентгено-структурных исследований, связанные с ионизационной регистрацией дифрагированных лучей. Многие задачи ( качественный и количественный фазовый анализ, определение ориентировок и изучение структуры монокристаллов, изучение текстур и др.) с успехом решаются ионизационным методом [1], причем время исследования при переходе от фотографической регистрации к ионизационной существенно уменьшается. [36]
Рефлексы появляются в тех случаях, когда сноп выходит на дебаевскую линию, даже если ось снопа находится на некотором расстоянии от линии. Полагая сноп симметричным относительно его оси, можно по нескольким рентгенограммам приблизительно установить положение оси ( средней нормали) и затем использовать его для определения ориентировки. [37]
Расчет полученной несимметричной рентгенограммы производят графическим методом при помощи гномостереографиче-ских проекций. Последние называют основными кристаллическими осями. В процессе определения ориентировки монокристалла пользуются заранее изготовленными полюсными фигурами. [38]
 |
Сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение. [39] |
Значения у и б, полученные с помощью сетки, позволяют перенести полученную точку на стереографическую проекцию с помощью сетки Вульфа. Следует отметить, что сетка Вульфа ориентируется таким образом, что меридианы на ней располагаются слева направо, а не сверху вниз. Сетка для расчета лауэграмм обратной съемки используется для определения ориентировки отдельных кристаллов в поликристаллических образцах и при других исследованиях. [40]
В случае достаточно больших монокристальных объектов оказывается возможным судить о кристаллографической ориентировке объекта и о степени совершенства его решетки. В случае мелкозернистого поликристаллического объекта картина каналирования может не возникнуть, однако различия в ориентировках зерен проявляются в разной яркости изображений, как бы отвечающих отдельным элементам ( полосам) картины каналирования. Поэтому для получения четких картин каналирования ( пригодных для определения ориентировки монокристалла) или наилучшего кристаллографического контраста в изображении поликристаллического объекта надо позаботиться об отсутствии значительных искажений кристаллической структуры, которые могут возникать при подготовке поверхности объекта. В общем случае для определения ориентировки по картинам каналирования требуется индицирование полос. [41]
Количественные ППФ обладают следующими недостатками. Все ориентировки зерен, которые различаются лишь поворотом вокруг нормали к отражающей плоскости hkl, дают на ППФ одну точку. Действительно, для того, чтобы произошло отражение рентгеновских лучей, достаточно, чтобы выполнилось условие Вульфа - Брэгга для плоскости ( hkl), но безразлично, как эта плоскость повернута вокруг нормали к ней. Кроме того, определение ориентировки кристаллитов требует специального анализа ППФ, который в случае сложных текстур с большим рассеянием ориентировок затруднителен и неоднозначен. [42]
В случае достаточно больших монокристальных объектов оказывается возможным судить о кристаллографической ориентировке объекта и о степени совершенства его решетки. В случае мелкозернистого поликристаллического объекта картина каналирования может не возникнуть, однако различия в ориентировках зерен проявляются в разной яркости изображений, как бы отвечающих отдельным элементам ( полосам) картины каналирования. Поэтому для получения четких картин каналирования ( пригодных для определения ориентировки монокристалла) или наилучшего кристаллографического контраста в изображении поликристаллического объекта надо позаботиться об отсутствии значительных искажений кристаллической структуры, которые могут возникать при подготовке поверхности объекта. В общем случае для определения ориентировки по картинам каналирования требуется индицирование полос. [43]
Из рис. 1 - 13 а легко видеть, что только в углах стандартного треугольника волна является продольной. Рисунок 1 - 13 е показывает, что во всех точках вдоль [100] - [-110] распространяется чистая сдвиговая волна ( v3), не связанная с отклонением потока энергии. Вблизи направления [111] поток энергии меняется так же, как и для волны Vz. Подобные диаграммы удобно использовать для определения подходящих ориентировок кристалла, исключающих возможность падения ультразвуковой волны на боковую поверхность образца при измерениях затухания ультразвука. [44]
Страницы: 1 2 3