Cтраница 1
Стереодиаграмма каркаса морденита. [1] |
Определение структуры кристалла всегда основано на сопоставлении методом проб и ошибок наблюдаемых и расчетных интен-сивностей дифракционных максимумов. Чтобы получить полный набор максимумов на рентгенограмме, необходимо изучать монокристалл размером не менее 20 - 50 мкм. На рентгенограммах порошков многие дифракционные максимумы не наблюдаются из-за их перекрывания или из-за того, что их интенсивность не превышает уровень фона. Это создает значительные трудности в определении рентгенографическим методом пространственной группы симметрии. При изучении мелкокристаллических цеолитов методом дифракции электронов легко детектировать дополнительные слабые отражения, но появление большого числа отражений затрудняет расшифровку. [2]
Определение структуры кристаллов обычно проводится при комнатной температуре. Спектры же кристаллов измеряются при температурах, при которых структура кристалла недостаточно известна. При изменении температуры структура кристалла может сильно измениться и, даже когда этого нет, могут изменяться размеры элементарной ячейки и ориентация молекул. При охлаждении вообще должны происходить некоторые изменения размеров элементарной ячейки в кристаллах, и в нескольких случаях [ 561 они были измерены. Наиболее яркий пример сильного изменения структуры кристалла встречается в случае гексаметилбензола. Было измерено несколько спектров кристаллов в форме, стабильной при низкой температуре, а также в обычной форме при комнатной температуре. [3]
Для определения структуры кристалла методом Фурье необходимо знать относительные фазы рассеянных лучей. Другой очень важный и часто используемый подход заключается в нахождении такого расположения атомов, которое давало бы наблюдаемую дифракционную картину. Можно решить эту задачу оптическим путем, поскольку дифракция рентгеновских лучей от группы атомов может быть промоделирована в виде дифракции света от маски, представляющей собой систему отверстий в непрозрачном экране. Это находит широкое применение при исследовании неупорядоченных структур, например волокон. В этой области были достигнуты значительные успехи. [4]
Насколько задача определения структуры кристалла ( трехмерное тело) сложнее нахождения расстояния между щелями дифракционной решетки ( двухмерный объект), простейшего примера использования дифракционного опыта для определения геометрии объекта, поясним на таком сравнении. [5]
Рентгенограмма и структура кристалла a - ZnS. а - рентгенограмма. б - кристаллическая решетка. [6] |
Основным методом определения структуры кристаллов является рентгеноструктурный анализ. Установка для исследования ( рис. 123) состоит из источника рентгеновских лучей, устройства для закрепления и ориентирования исследуемого образца и приемника рассеянного образцом излучения. [7]
Прямые методы определения структуры кристаллов ведут свое начало от открытия Лауэ, Фридрихсом и Книппингом в 1912 г. интерференции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Рассмотрим основные моменты теории дифракции рентгеновских лучей на пространственной решетке кристалла. Некоторые из них уже были приведены в § 3 гл. Вкратце они состоят в следующем. Пусть плоская поляризованная электромагнитная волна в момент времени t падает на свободный заряд в точке О. [8]
Структура NaCl.| Структура Csl. [9] |
Международные таблицы для определения структур кристаллов [ 13], представляющие стандартный справочник для исследователей различных стран; в них содержится весь материал, необходимый для определения кристаллических структур как с теоретической, так и экспериментальной точки зрения. [10]
Наиболее известный метод определения структуры кристалла - рентгеновский. [11]
Этот метод обычно используют для определения структуры кристаллов. Поскольку дифракция рентгеновых лучей на атомах происходит благодаря их электронной оболочке, можно одновременно получить и некоторую информацию о распределении электронной плотности. [12]
Из сказанного ясно, что определение структуры кристаллов с помощью рентгеновских дифракционных методов представляет интерес для химиков, биологов, биохимиков, физиков, геологов и математиков, не говоря уже о кристаллографах. Практически применение кристаллографии безгранично и открывает много новых интересных областей исследования для ученых, работающих в разных направлениях. [13]
Понятие антисимметрии играет существенную роль при определении структуры кристаллов и симметрии элементарных частиц. [14]
Книппинг, 1912 г.) были усовершенствованы методы определения структуры кристаллов ( и В. Л. Брэгг) и разработана вполне удовлетворительная электростатическая теория связи в электровалентных ( ионных) соединениях. [15]