Определение - структура - кристалл
Cтраница 2
Метод дифракции нейтронов в своей основе подобен рентгеновскому методу определения структуры кристаллов. Дифракция нейтронов обусловлена их когерентным рассеянием на ядрах и электронной оболочке атома. При малых углах рассеяния эффективное сечение рассеяния электронной оболочки оказывается того же порядка величины, что и сечение рассеяния на ядрах атомов, и, кроме того, рассеяние на оболочке зависит от взаимной ориентации ее магнитного момента и плоскости рассеяния. [16]
Метод дифракции нейтронов в своей основе подобен рентгеновскому методу определения структуры кристаллов. Дифракция нейтронов обусловлена когерентным рассеянием их на ядрах и на электронной оболочке атома. При малых углах рассеяния эффективное сечение рассеяния электронной оболочкой атома оказывается того же порядка величины, что и сечение рассеяния на ядрах атомов, и, кроме того, рассеяние на оболочке зависит от взаимной ориентации магнитного момента оболочки и плоскости рассеяния. [17]
Уточнение этой поправки может быть важным при других точных работах по определению структуры кристаллов. [18]
Эта книга написана с целью дать читателю основные знания, необходимые для определения структуры кристаллов методом рентгеноструктурного анализа. [19]
Предложено много специальных способов для уменьшения трудоемкости таких расчетов, но в определении структур сложных кристаллов, по-видимому, почти всегда остается некоторый элемент проб и ошибок. [20]
Необработанные данные, полученные фотографическими или ионизационными методами, еще нельзя непосредственно использовать для определения структуры кристалла. [21]
 |
Камера РКОП для съемки монокристаллов ( рядом с каме. [22] |
Рентгенгониометр РГНС наклонной съемки ( рис. 10) предназначен для получения экспериментальных данных с целью определения структуры кристалла. [23]
Столь тщательное рентгенографическое исследование не является, однако, исчерпывающим и связано с рядом дополнительных трудностей, помимо встречающихся при определении структуры кристаллов мономерных веществ; поэтому до настоящего времени этот метод применялся широко только для очень небольшого числа полимеров. Некоторые сведения, однако, можно получить и без такого тщательного рентгенографического исследовании: определение периода идентичности в направлении вытягивания и сравнение полученных величин с предполагаемой величиной периода для данной химической структуры при нормальных межатомных расстояниях и углах связи является простым и надежным методом в случае хорошо кристаллизующихся полимеров. Однако нельзя быть уверенным в точности этого метода, поскольку результаты, полученные с его помощью, зависят не только от химического строения, но и от геометрической конфигурации молекул. Не представляется возможным сделать какие-либо обобщения: каждый случай нужно рассматривать как самостоятельную проблему. В дальнейшем будут приведены примеры вопросов, возникающих при этих исследованиях. В некоторых случаях для определения химического строения достаточно найти период идентичности, в других - для получения удовлетворительных данных о строении молекулы необходимо тщательное рентгенографическое исследование, включая определение размеров элементарной Ячейки и расположения в ней атомов. [24]
В настоящее время кажется очевидным, что после вывода уравнения ( 1), как мы уже указывали во введении, проблема определения структуры кристалла формально была решена. Расчет этого выражения для каждой точки элементарной ячейки является трудоемким процессом, который, однако, можно запрограммировать для электронных вычислительных машин или провести расчет с помощью некоторых методов подобия. Так как отражения рентгеновских лучей зависят от положения кристалла при проведении эксперимента, то вся информация о соответствующих фазовых постоянных теряется. [25]
Несмотря на то что формулы электронной плотности для всех групп симметрии приводятся в справочниках по рентгеноструктурному анализу ( например в английском издании Международных таблиц для определения структуры кристаллов), практикам, занимающимся структурным анализом, довольно часто приходится выводить выражения электронной плотности отдельно для каждого конкретного случая вследствие специфики установки данного кристалла. В некоторых случаях изменение установки вытекает из соображений математического удобства. [26]
Тем не менее, одно является совершенно определенным, а именно, что более или менее тетраэдрическая структура молекул воды часто играет важную роль в определении структуры кристалла. В этих солях ион магния окружен шестью молекулами воды, расположенными в форме правильного октаэдра. Два галоида тесно примыкают к этой группе и находятся вблизи центров противоположных граней октаэдра. Возле каждой из шести других сторон имеется галоид, смещенный от центра грани по направлению к одной из молекул воды. Хотя при помощи рентгенографического анализа невозможно установить местоположение атомов водорода в кристалле, кажется вероятным, что каждый из двух галоидов, которые находятся у центров противоположных граней, имеет вблизи себя водород каждой из трех молекул воды, образующих эту грань. Другие атомы водорода от каждой молекулы Н20 направлены к одному из других галоидов. [27]
Направление научных исследований: фотохимия; ИК-спектроскопия и спектры комбинационного рассеяния; нонно-молекулярные реакции; физико-химические свойства растворов; процессы горения; газовая хроматография; кинетика реакций в газовой фазе; определение структуры кристаллов с помощью рентгеновской дифракции; применение волновой н статистической механики к изучению физических и химических свойств молекул. [28]
Закон Брэгга, выражаемый формулой ( 11), выполняется с такой точностью, что дифракция рентгеновских лучей от кристаллов может быть использована для проведения прецизионных измерений d или Я. Измерение d является основой при определении структуры кристаллов. [29]
Страницы: 1 2 3 4