Рентгеновская оптика

Cтраница 2

Так как сдвиг по фазе ср / не зависит от индексов дифракционного щуча и, в частности, не заменяется на обратную величину при переходе от hkl к hkl, то включение поправки на аномальное рассеяние делает лучи с индексами hkl и hkl не вполне равноценными по интенсивности и, следовательно, нарушает закон центросимметричности рентгеновской оптики. [16]

Так как сдвиг по фазе ер - не зависит от индексов дифракционного яуча и, в частности, не заменяется на обратную величину при переходе от hkl к / Ш, то включение поправки на аномальное рассеяние делает лучи с индексами hkl и hkl не вполне равноценными по интенсивности и, следовательно, нарушает закон центросимметричности рентгеновской оптики. [17]

Ввиду близости q к единице рентгеновское излучение фокусировать с помощью линз и призм практически невозможно. В рентгеновской оптике пучки формируют чаще всего с помощью диафрагм либо зеркал с полным внешним отражением. Используются также дифракционные методы фокусировки пучков. [18]

Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попар-ной авноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hkl) - замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости R. Значит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [19]

Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попарной равноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hkl) замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости R. Зна чит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [20]

Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попарной равноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hki) замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости Я. Значит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [21]

Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попар-ной равноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hM) - замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости R. Значит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [22]

Во второй главе излагается теория отражения МР-излучения от шероховатых поверхностей. Поэтому ясно, что для рентгеновской оптики вопрос о шероховатостях имеет принципиальное значение. [23]

Методы мик - tron Microanalysis ] - - электронный роанализа рентгеноспектральный анализ. XRF. [24]

Для всех методов очень важными являются пооблемн пор. Они успешно решаются с помощью многослойной рентгеновской оптики. В частности, для методов ЕРМА и XRF чувствительность определяется эффективностью и спектральным разрешением дисперсионного элемента. Если речь идет об анализе на легкие элементы с зарядом Z 13, то необходимо вести спектральный анализ в области длин волн 0 9 нм % 3 11 4 нм, где расположены характеристические линии элементов от магния до бериллия. [25]

Подобными исследованиями занимаются ученые США, Франции, Англии, СССР, Японии и Голландии. В США активно работают Центр рентгеновской оптике Берилкевакой лаборатории им. [26]

МР-излучекия от многослойных зеркал могут достигать 40 - 80 % по для этого необходимо правильно подбирать как вещества, составляющие структуру, так и толщины пленок. Отметим, что в конечном счете именно поглощение ограничивает все предельные характеристики многослойной рентгеновской оптики. [27]

Таким образом, в рентгеновской оптике идет речь о сверхгладких поверхностях, требования к которым не регламентируются существующими стандартами. Как будет видно из последующих глав, в ряду факторов, ограничивающих сегодня параметры как рентгеновской оптики скользящего падения, так и многослойной, шероховатость поверхности занимает одно из первых мест. [28]

Приложение I содержит таблицы фундаментальных констант, позволяющих для любого вещества с известным составом определить вещественную и мнимую части диэлектрической проницаемости в диапазоне длин волн от 0 6 нм до 12 4 нм. Впервые в таком виде эти таблицы были опубликованы Хенке, Ли, Танакой и другими в 1981 г. С тех пор таблицы Хенке широко используются для выбора оптических покрытий всевозможных устройств рентгеновской оптики, хотя на необходимость продолжать обширные и тщательные измерения оптических констант указывают многие авторы. [29]

На основании дифракционных явлений были созданы приборы, позволяющие измерить с большой точностью длины волн рентгеновского излучения. Использование дифракции на кристаллах для управления рентгеновскими лучами лежит в основе рентгеновской оптики, получившей особенно большое развитие в последние годы. [30]

Страницы: 1 2 3