Cтраница 3
![]() |
Ширина линии ЭПР ( в э. [31] |
Кроме сужения линии влияние обмена приводит к интересному эффекту зависимости ширины линии ЭПР от частоты наблюдения [ 2 61, возникающему, когда резонансная частота ч изменяется вблизи частоты обмена. Зависимость ширины линии от резонансной частоты ч действительно наблюдалась для некоторых парамагнетиков. Это название обязано тому, что при полностью изотропном расположении молекул парамагнетика ширина линии ДЯ при v g че оказывается в 10 / 3 раз больше. [32]
При повышении температуры происходит изменение линий ЭПР, связанное с усреднением анизотропных взаимодействий вследствие молекулярных движений. Зависимость ширины линии АН от температуры может быть описана известной из теории ЯМР формулой. [33]
Определение зависимости ширины линии ФМР и коэффициента трения в никеле от времени испытания в поверхностно-активной среде показали, что в период приработки АЯ сначала возрастает от 8 2 X X 10 до 12 2 104 А / м, после чего не изменяется в рамках погрешности опыта. [34]
Таким образом, наличие обратимой составляющей ширины дифракционных линий может быть обусловлено только микроразрушением поверхностного слоя, образованием микротрещин. Периодический характер зависимости ширины линий ( 110) и ( 220) a - Fe свидетельствует о том, что при разных нагрузках одно и то же число воздействий: индентора соответствует разному состоянию поверхности - различной степени ее упрочнения или разрушения. [35]
В шестой главе представлены результаты седиментационного и рентгеновского анализа подверженных обработке веществ с различным типом химической связи: ионных кристаллов - хлоридов натрия и калия, ковалентно-го кристалла кремния, пероксидов кальция и бария, тройных металлоокси-дов. Для всех изученных кристаллов обнаружена немонотонная зависимость ширины линий от продолжительности обработки, причем отжиг обработанных образцов приводил к сужению линий и возврату их к значениям, соответствующим исходным образцам. Результаты расчетов показывают, что характер структурных изменений разных кристаллов при одних и тех же внешних воздействиях зависит от типа химической связи причем структурные изменения для однотипных кристаллов ( пероксиды - ВаО2 и СаО2 или ионные кристаллы - NaCl и КС1) одинаковые. [36]
![]() |
Зависимость ширины линии ЭПР твердого ДФПГ от амплитуды модуляции магнитного поля ( по данным. [37] |
Если Нт известно только в относительных единицах, то наклон прямой в координатах уравнений (4.30) или (4.31) позволяет определить абсолютные значения Нт. Для проверки предлагаемого метода была использована зависимость ширины линии о г амплитуды модуляции для ДФПГ [ 1 к гл. [38]
![]() |
Изменение ширины линии ядерного магнитного резонанса с температурой для полигексаметиленадипинамида. [39] |
Глик и другие авторы [508] применили протонный магнитный резонанс для исследования полигексаметиленадипинамида. На рис. 220 показана найденная ими зависимость ширины линии протонного резонанса от температуры. [40]
![]() |
Градуировочные графики для фазового анализа азотированного слоя в стали. [41] |
Определение глубины обезуглероживания слоя и степени обезуглероживания основано на зависимости ширины линий мартенсита на рентгенограмме от содержания углерода. Эта зависимость показана на рис. 10 для линий [ ( НО) - ( 011) ( 101) ] углеродистых сталей. [42]
Самый простой и поэтому надежный способ определения величины диполь-дипольного взаимодействия состоит в изучении зависимости ширины линии от концентрации в условиях, когда диполь-дипольное взаимодействие дает существенный вклад в экспериментально наблюдаемую ширину линии. [43]
Уравнение устанавливает связь между Т и параметром ц / Т для данной жидкости. Из этой связи можно ожидать, что для одной температуры более узкие линии будут у образцов с меньшей вязкостью, а для любого раствора при повышении температуры линии будут сужаться до тех пор, пока сохраняется зависимость ширины линии от температуры. [44]
Выше отмечалось, что линии рентгенограммы закаленной стали сильно размыты. При о тпуске стали ширина линий постепенно уменьшается, стремясь к некоторой постоянной величине, определяемой условиями эксперимента и состоянием кристаллов а-фазы. Зависимость ширины линий В от температуры отпуска может быть построена по экспериментальным данным. Для этой цели необходимо приготовить серию образцов одной и той же стали, закалить и подвергнуть их отпуску при различных температурах. [45]