Основание - пик
Cтраница 1
Основание пика А В ( рис. 293) получают путем интерполяции основной линии между крайними точками пика. Площадь, заключенную между пиком и основанием, называют площадью под пиком, а расстояние h от вершины пика до основания пика, измеренное параллельно оси ординат и представляющее сигнал детектора, - высотой пика. Отрезок основания пика i, заключенный между касательными в точке перегиба на каждой из сторон пика, называется шириной пика. [1]
Основание пика CD - отрезок на нулевой линии, полученный интерполяцией нулевой линии в промежутке от начала до конца пика. [2]
Основание пика АВ ( см. рис. 3) получают путем интерполяции основной линии между крайними точками пика. [3]
Основание пика АВ ( см. рис. 7.18) получают интерполяцией основной линии между крайними точками пика. Площадь, заключенную между пиком и его основанием, называют площадью под пиком, а расстояние / г от высоты пика до основания, измеренное параллельно оси ординат и представляющее собой сигнал детектора -: высотой пика. Отрезок основания р, заключенный между касательными к точкам перегиба к каждой стороне пика, называется шириной пика. Линия CD, параллельная основанию пика и делящая высоту пика пополам, называется полушириной пика. [4]
Отрезок основания пика р, заключенный между касательными к точкам перегиба к каждой стороне пика, называется шириной пика. Линия CD, параллельная основанию пика и делящая высоту пика пополам, называется полушириной пика. [5]
Отрезок основания пика FG, отсекаемый касательными к обеим сторонам пика в точках перегиба, представляет ширину пика. Линия Я /, параллельная основанию пика, пересекающая пик на половине его высоты и ограниченная боковыми сторонами пика, именуется как ширина пика на расстоянии половины его высоты от основания. [6]
Нами-установлено, что основания пиков при строгом соблюдении условий опыта оставались постоянными и высоты пиков прямо пропорциональны количеству введенного газ; несмотря на неполное разделение газов расчет количественного содержания их вполне возможен. [7]
Касательную к одному из оснований пика, если на этом основа - нии наблюдается минимум тока, обычно проводят через точку минимума. Расшифровка по методу касательной к одному из оснований пика, как правило-менее однозначна и подвержена большим случайным погрешностям, чем расшифровка по методу касательной к обоим основаниям. [8]
Для этого проводят на хроматограмме прямую через основания пиков от точки ввода пробы до прямой части нулевой линии выхода всех компонентов анализируемой смеси. Затем: из максимумов высот пиков опускают на проведенную горизонтальную линию перпендикуляры и точно измеряют расстояние между перпендикуляром и отметкой впуска смеси на диаграмме. Такой же замер производят и для стандартной кислоты. [9]
 |
Измерение площади пика 78. [10] |
Для этого проводят на хроматограмме прямую через основания пиков от точки ввода пробы до прямой части нулевой линии после выхода всех компонентов анализируемой смеси. Затем из максимумов высот пиков опускают на проведенную горизонтальную линию перпендикуляры и точно измеряют расстояние между перпендикуляром и отметкой впуска смеси на диаграмме. Такой же замер производят и для стандартной кислоты. [11]
 |
Влияние давления в анализаторе на разрешающую силу ( щель источника ионов шириной 0 0063 мм, щель коллектора - 0 025 мм. [12] |
Влияние давления в анализаторе на появление хвостов у основания пиков продемонстрировано на рис. 13, на котором показан дублет СО-N2, снятый автоматически при аномально больших давлениях в анализаторе. [13]
Ъв - время, определяемое шириной полосы у основания пика, полученного при программировании температуры. [14]
К 1, с достаточной точностью может быть использовано основание пика); К ( точнее, Кафф) - степень разделения наихудшим образом разделяемой пары компонентов; t - продолжительность анализа, равная сумме времени удерживания последнего компонента и продолжительности элюирования половины основания1 зоны этого вещества; / - соответствующее расстояние на картограмме. [15]
Страницы: 1 2 3 4