Ось - кристалл
Cтраница 2
Вращая камеру В вокруг оси кристалла, можно измерить интенсивность рассеянного пучка как функцию утла рассеяния. [16]
Ось Z направлена по оси кристалла, а ось Y - по одной из осей второго порядка. В выражении (4.2.2) члены AL2 / 2, Вт2 / 2 представляют обменное взаимодействие, члены abl / 2, Ьт2г / 2 - одноосную кристаллографическую анизотропию. [17]
Предположим, что вдоль оси Y кристалла проходит поворотная ось симметрии второго порядка. [18]
Волна, идущая здоль оси кристалла, многократно отражается от его плоскопараллельных торцов и быстро усиливается. [19]
 |
Ипдицирование рентгенограммы вращения с помощью обратной решетки. [20] |
Затем анализируют ячейку Бравэ, оси кристалла выбирают таким образом, чтобы объем элементарного параллелепипеда был минимальным. [21]
 |
Схема движений кристалла и кассеты в прецессионной камере при съемке. [22] |
С) должен находиться на оси Z кристалла, совершающей прецессионное движение. Следовательно, ширма должна двигаться вместе с кристаллом как одно целое. [23]
Если ось образца приблизительно параллельна шестикратной оси кристалла ( образует угол 5 - 15), то касательное напряжение в плоскости ( 001) будет почти равно нулю. [24]
Напротив, замечательное параллельное расположение осей кристаллов кварца в некоторых альпийских породах является, согласно Шмидту, примером структуры с пассивной ориентацией. Он обнаружил, что оси мелких кристаллических зерен кварца в породах Альп на площадях, занимающих многие квадратные километры, имеют общее предпочтительное направление. [25]
Рентгенограммы, снятые по трем осям кристалла, позволяют определить его систему. Сопоставляя рентгеновскую сетку со стандартными стереографическими проекциями, построенными по рентгенограмме, находят кристаллографическую систему исследуемого образца и выход его осей. Измеряя углы между осями с помощью сетки Вульфа, определяют ориентацию кристалла. Форма ячеек сетки дает возможность найти форму ячеек кристалла, а длина сторон ячеек сетки - вычислить отношение ребер элементарной ячейки кристалла. Другие задачи рентгеноструктурного анализа решить этим методом нельзя, поскольку полихро-матичность лучей не позволяет определить расстояние между атомными плоскостями. [26]
В кристаллах проводимость неодинакова по разным осям кристалла. [27]
Эти новые оси координат называют электрическими осями кристалла. [28]
 |
Фокусировка светового лучка активным элементом за счет радиальной и тор-девой неоднород-ностей коэффициента преломления. [29] |
Здесь MO - показатель преломления на оси кристалла, близкий по значению к показателю преломления в холодном состоянии яа; г - расстояние до оси кристалла; П2 - добавка к коэффициенту преломления, появляющаяся за счет нагрева кристалла. Знак ми-лус перед п2 означает, что тепловая линза является собирающей. [30]
Страницы: 1 2 3 4