Cтраница 2
Самая нижняя кривая соответствует случаю, когда магнитное поле направлено вдоль легкой оси. Данные получены на монокристаллических сфер) ческих образцах при частоте 24 - Ю3 Мгц. [17]
Кроме того, экспериментально установлено, что погрешность в расположении легких осей отдельных элементов уменьшается, если прямоугольные элементы вытянуты вдоль тяжелой оси. [18]
![]() |
Зависимость намагниченности образца от магнитного поля. [19] |
В тех случаях, когда направление поля не совпадает с легкой осью, после завершения процессов смещения начинается процесс вращения намагниченности оставшихся доменов к направлению магнитного поля. [20]
Выражение вида (70.10), выведенное здесь для одноосного ферромагнетика ( типа легкая ось), справедливо и для кубических кристаллов. Это следует из того, что изменение энергии анизотропии при малых отклонениях вектора М от своего равновесного направления имеет в обоих случаях одинаковый вид. Отметим также, что в кубическом кристалле величина а ( п) сводится к постоянной. Для одноосного же ферромагнетика типа легкая плоскость ( К 0) ситуация иная: изменение 6UaH при отклонении М от MQ зависит как от полярного угла, так и от азимута направления М относительно MQ; поэтому этот случай требует особого рассмотрения - см. задачу. [21]
В ряде случаев, когда внешнее поле приложено под углом к легкой оси, разделить области, где преобладает смещение границ и вращение, практически невозможно, так как оба эти процесса протекают одновременно. [22]
![]() |
Приспособление для ориентации осей резонаторов с ИЖГ сферой, прикрепленной к проволоке, . направленной вдоль одной легкой оси и к кварцевому стержню вдоль оси [ ПО ]. [23] |
Таким образом, на данном этапе определяется и фиксируется одна из легких осей и обеспечивается возможность поворота сферы вокруг нее. [24]
В настоящее время применяются два вида цилиндрических элементов, отличающихся направлением легкой оси намагничивания. То или иное направление легкой оси создается соответствующей ориентацией магнитного поля в процессе изготовления пленок. [25]
В качестве примера рассмотрим колебания магнитных моментов для кристалла с анизотропией типа легкая ось и основного состояния, в котором намагниченности подрешеток Mj ориентированы вдоль кристаллографической оси. [26]
Нарушения аксиальной симметрии нет ( из-за невыгодности отклонения силовой линии от направления легкой оси) в одноосной УС с нормальной обкладкам легкой осью, к рассмотрению которой мы переходим. Поэтому теорема Гаусса для эквипотенциальной поверхности ограничивает сверху величиной Q / P не саму площадь этой поверхности, а лишь ее проекцию на плоскость тяжелой поляризации. Это ведет к локализации поля Е в пределах цилиндра радиуса TQ с осью по оси диполя, означая одновременно равенство нулю всех мультипольных электрических моментов полной ( внешней и индуцированной) плотности заряда. [27]
На рис. 30.8 представлена магнитная фазовая диаграмма Мпр2 при поле, параллельном легкой оси. [29]
Для измерения коэрцитивной силы Не пленки ( или ее небольшого участка) вдоль легкой оси прикладывается переменное поле 7 / л ( 50 гц), причем легкая ось лежит в плоскости падения. & - После этого находится / / д Не, при котором изменение магнитного момента составляет 50 % от первоначального. [30]