Cтраница 3
Для задач, описываемых уравнениями параболического типа, часто удается записывать балансовые соотношения, например уравнение материального баланса применительно к газовой залежи. Наличие такого уравнения при проведении численных расчетов позволяет судить о правильности составления программы и дает представление о величине интегральной ошибки, получаемой в результате расчетов на ЭВМ. [31]
Второе слагаемое задает осреднен-ную по времени ( интегральную) точность на всем интервале управления. Как видно, критерий Q есть компромиссный критерий качества системы между конечной ( терминальной) ошибкой системы, интегральной ошибкой в процессе управления и интегральным управляющим усилием. Относительная важность трех указанных составляющих критерия Q, а также веса отдельных компонент векторов ошибки Е ( t) и управления и ( t) задается набором весовых матриц Гъ Г2 ( t) и Г3 ( t), который допускает значительную свободу выбора. В частности, некоторые слагаемые ( 310) за счет этих матриц могут обращаться в нуль. [32]
Если Р ( 1) ( Я) и 3 ( 2) ( Я) пересекаются в трех или более точках в диапазоне видимого спектра, легко представить, что интегральные ошибки, выражаемые уравнениями (2.35), могут обратиться в нуль. Даже если Р ( 1 ( Я) и рс2) ( Я) и не обнаруживают полностью метамерного различия, пересечение двух кривых обеспечивает уменьшение величины интегральных ошибок, особенно если различия по спектру нигде не становятся слишком значительными. [33]
Блок опережения - запаздывания позволяет ослаблять или усиливать регулирующее воздействие регулятора при изменении нагрузки с целью изменения количества вещества или энергии в объекте. Суммарная площадь между кривыми изменения входного и выходного сигналов блока, соответствующая интегральной ошибке регулирования системы, при отсутствии компенсирующих устройств должна быть равна нулю. [34]
На практике наиболее широкое распространение при оценке качества работы ристем регулирования получили интегральная и интегральная квадратичная ошибки. Принципиальное отличие между ними состоит в том, что вторая учитывает абсолютное значение ошибки. Например, две кривые переходного процесса с различными амплитудами колебаний параметра могут иметь одинаковые интегральные ошибки, но разные интегральные квадратичные ошибки. [35]
Интегральная ошибка определяется как площадь, ограниченная кривой изменения регулируемого параметра и его заданным значением. Интегральная ошибка является одним из общепринятых критериев оценки качества регулирования. Так как возникающее при изменении нагрузки рассогласование в конце концов становится рав - х ным нулю, то в любом устойчивом контуре регулирования интегральная ошибка приближается к некоторому конечному значению. [36]
Подготовка системы к работе происходит следующим образом. Мы предполагаем, что с самого начала нам доступна априорная информация о поведении объекта в различных режимах. Тогда задачей первого этапа является переработка этой информации в библиотеку тренировочных шаблонов, на основании которой затем синтезируется нейроэмулятор объекта. Когда интегральная ошибка, генерируемая эмулятором, снижается до заданного предела, параметры нейроэмулятора копируются в блок тренировки нейроконтроллера. Здесь с участием эталонной модели происходит оценка различных стратегий управления объектом, рассматриваются и сравниваются между собой различные сценарии будущего. Как только удается достичь выполнения виртуальным трактом требований эталонной модели, параметры виртуального контроллера сбрасываются на исполнительный контроллер, после чего система может приступать к работе. [37]
Наилучшим способом использования дополнительного регулятора для уменьшения отклонений является построение схемы каскадного регулирования. Основная регулируемая величина процесса подается на вход первичного регулятора, а сигнал из промежуточной точки - на вход вторичного. Главное преимущество каскадного регулирования заключается в улучшении качества работы системы при любых возмущениях по нагрузке. Если возмущения приложены к входу объекта, вторичный регулятор начинает оказывать регулирующее воздействие еще до того, как на выходе системы появится какое-либо отклонение; ошибка при этом может быть уменьшена в 10 - 100 раз по сравнению с ошибкой в одноконтурной системе. При возмущениях, приложенных к последующим элементам объекта, интегральная ошибка уменьшается в 2 - 5 раз за счет более высокой собственной частоты каскадной схемы регулирования. [38]
Обычно используют два способа задания качественных показателей. При первом способе задается область, внутри которой должны располагаться фактические показатели качества. Системы, построенные в соответствии с этим способом, называют системами со стабилизируемыми показателями качества. Их примером могут служить системы, в которых обеспечивается значение показателя качества не меньше заданного. При втором способе показатель качества задается в виде функционала, а корректирующие цепи выбирают так, чтобы при заданных воздействиях и ограничениях обеспечивался экстремум этого функционала. Системы, построенные этим способом, называются системами с оптимизацией показателя качества. Их примером могут служить системы с минимальной квадратичной интегральной ошибкой. [39]
Иными словами, для каждой частицы, начиная с исходных атомов пробы, имеется лишь определенная вероятность 0 / 71 вовлечения в физический процесс или химическую реакцию. Эта вероятность р есть не что иное, как коэффициент пропорциональности между числом частиц или квантов, переходящих с этапа на этап. Успешное осущестзле-ние анализа предполагает не только линейный характер всех поэтапных зависимостей, но и сохранение постоянства каждого из коэффициентов пропорциональности в ходе всего анализа, включая анализ образцов и эталонов. Только при этом условии величина физического свойства, измеряемого в ходе конечного определения ( оптическая плотность) -, будет прямо пропорциональна исходному числу частиц или концентрации определяемого элемента. Фактически же при эмиссионном анализе уже начальные этапы - испарение и возбуждение атомов пробы - не могут осуществляться в стационарном режиме, поскольку параметры плазмы ( температура, электропроводность, плотность тока) меняются во времени по ряду причин и прежде всего из-за изменения величины межзлект-родного промежутка при выгорании электродов. Эффективность конечных этапов эмиссионного анализа в сильной степени зависит не только от степени однородности светочувствительных слоев, химических особенностей фотографических реагентов и способов обработки фотографические материалов, но и от принципиальных деталей структуры спектра, которая определяется как химическим составом пробы, так и качеством спектральной аппаратуры. Путь от анализируемой пробы к метрологическому образу - фотографическому изображению спектра - сложен и тернист, поэтому интегральная ошибка эмиссионно-спектрального определения может достигать больших величин. [40]
Иными словами, для каждой частицы, начиная с исходных атомов пробы, имеется лишь определенная веро - ятность 0 / 71 вовлечения в физический процесс или химическую реакцию. Эта вероятность р есть не что иное, как коэффициент пропорциональности между числом частиц илн квантов, переходящих с этапа на этап. Успешное осуществление анализа предполагает не только линейный характер всех поэтапных зависимостей, но и сохранение постоянства каждого из коэффициентов пропорциональности в ходе всего анализа, включая анализ образцов и эталонов. Только при этом условии величина физического свойства, измеряемого в ходе конечного определения ( оптическая плотность), будет прямо пропорциональна исходному числу частиц или концентрации определяемого элемента. Фактически же при эмиссионном анализе уже начальные этапы - испарение и возбуждение атомов пробы - не могут осуществляться в стационарйом режиме, поскольку параметры плазмы ( температура, электропроводность, плотность тока) меняются во времени по ряду причин и прежде всего из-за изменения величины межэлектродного промежутка при выгорании электродов. Эффективность конечных этапов эмиссионного анализа в сильной степени зависит не только от степени однородности светочувствительных слое химических особенностей фотографических реагентов и способов обработки фотографических материалов, но и от принципиальных деталей структуры спектра, которая определяется как химическим составом пробы, так и качеством спектральной аппаратуры. Путь от анализируемой пробы к метрологическому образу - фотографическому изображению спектра - сложен и тернист, поэтому интегральная ошибка эмиссионно-спектрального определения может достигать больших величин. [41]