Бомбардировка - образец
Cтраница 3
Для изучения пространственного постоянства космического излучения прежде всего необходимо знать относительные доли Аг37 и Аг39, образующихся при непрерывном потоке космических лучей. Отношение может быть близким к полученному бомбардировкой образца метеорита протонами с энергией 3 Бэв. Использование протонов с энергией 3 Бэв в качестве удовлетворительного заменителя космического излучения может быть обосновано следующими соображениями. Изотопы аргона Аг37 и Аг39 образуются в метеорите при воздействии частиц высоких энергий на элементы, имеющие более высокие атомные массы по сравнению с аргоном. К подобным элементам, которые находятся в достаточном количестве в каменных метеоритах и которые необходимо принимать во внимание, относятся никель, железо, кальций и калий. Изотопы аргона образуются из железа и никеля в виде осколочных продуктов, возникающих при испарении ядер и тяжелых частиц из возбужденного ядра. Эти процессы являются процессами высоких энергий, и относительные доли образования этих двух изотопов, по существу, не должны зависеть от энергии бомбардирующих частиц. Это отношение было найдено равным 7 4; 7 4; 7 4 и 6 8 при энергиях протонов 0 4; 1 0; 3 0 и 5 7 Бэв соответственно. [31]
В рентгеновском флуоресцентном анализе используют рентгеновские спектры элементов для химического анализа веществ. Для получения спектра в качестве диспергирующего элемента применяют кристаллы или дифракционные решетки. Рентгеновское возбуждение атомов вещества может возникать в результате бомбардировки образца электронами больших энергий или при его облучении рентгеновскими лучами. Электронная бомбардировка приводит к появлению не только характеристического спектра элемента, но и достаточно интенсивного непрерывного излучения; флуоресцентное излучение содержит только линейчатый спектр. [32]
Увеличение энергии электронов приводит к образованию возбужденных заряженных частиц, которые могут распасться на отдельные фрагменты. В практике обычно применяют пучки электронов с энергией 50 - 100 эВ, так как это позволяет получать наиболее воспроизводимые спектры. Для большинства исследуемых систем такой энергии достаточно, чтобы выбить из молекулы второй электрон и образовать двухзарядный ион. Бомбардировка образца электронами приводит также к образованию некоторых видов отрицательных ионов, но их доля обычно не превышает 10 - 2 - 10 - 4 от полного числа заряженных частиц. [33]
У полупроводников, находящихся в возбужденном состоянии, может наблюдаться испускание электромагнитного излучения - люминесценция. При фотолюминесценции излучение появляется за счет поглощаемой энергии света. Свечение, возникающее при бомбардировке образца электронами, называют ка-тодолюминесценцией. [34]
Величину тока измеряют электр. Послойный анализ тонких пленок и поверхностных слоев осуществляют масс-спектрометрическим определением состава продуктов вторичной эмиссии при бомбардировке образца пучком быстрых ионов. [35]
Отметим, что при использовании ионных пучков высоких энергий интенсивность эмиссионного электронного спектра сравнительно мала. Это объясняется сложностью создания мощных высокоэнергетических ионных пучков и уменьшением коэффициента электронной эмиссии с ростом энергии бомбардирующих ионов. Из анализа спектра, приведенного на рис. 16.5, следует еще одна интересная особенность метода ИОС при использовании высокоэнергетических ионных пучков для анализа тонких слоев вещества на прохождение. Линии оже-электронов атомов, ионы которых используются для бомбардировки образца, являются естественным эталоном для последующего анализа интенсивностей линий оже-спектра атомов мишени, что может эффективно использоваться для количественного химического анализа методом ИСС. [37]
Хониг рассмотрел условия, которые следует считать идеальными для проведения опытов по разбрызгиванию ионов с поверхности. Некоторые из этих условий являются взаимно исключающими, другие чрезвычайно трудно реализовать и поэтому, несмотря на то, что работа Хонига более совершенна по сравнению с предыдущими, ее можно рассматривать лишь как предварительное исследование. Эти металлы были выбраны благодаря своей высокой температуре плавления, поскольку для исследований такого рода необходим широкий температурный диапазон, обеспечивающий возможность очистки материала мишени при высокой температуре. Из неочищенного материала получались ионы, типичные для примесей, загрязняющих поверхность, в то время как при бомбардировке свежеочищенного образца получались атомные ионы, соответствующие примесям, которые по данным спектроскопических исследований находились в основной массе мишени. [38]
Оптимальные условия реализуются при определении элементов среднего ат. Длительность анализа от неск. Наибольшие трудности возникают при анализе элементов с малыми Z и работе в мягкой области спектра. На результаты анализа влияют общий состав пробы ( поглощение), эффекты селективного возбуждения и поглощения излучения элементами-спутниками, а также фазовый состав и зернистость образцов. РЬ и Вг в нефтях и бензинах, серы в газолине, примесей в смазках и продуктах износа в машинах, при анализе катализаторов, при осуществлении экспрессных силикатных анализов и др. Для возбуждения мягкого излучения и его использования в анализе успешно применяется бомбардировка образцов а-частицами ( напр. [39]
Приемник ионов в масс-спектрографе представляет собой фотопластинку. Ионные источники масс-спектрометра должны обеспечивать небольшую расходимость пучка ионов, малый разброс ионов по энергиям, высокую и стабильную во времени их интенсивность и значительную эффективность ионизации. Для анализа газов чаще всего применяют источник с электронной бомбардировкой, обеспечивающей стабильность ионных токов до 0 05 % и малый разброс ионов по энергиям. Для анализа твердых материалов используют преим. Другим распространенным типом является источник с ионной бомбардировкой, в котором используется вторичная ионно-ионная эмиссия. Используется также эмиссия ионов при бомбардировке образца электронным пучком, а также при лазерном облучении. Все твердотельные ионные источники образуют ионы с большим разбросом по энергиям, поэтому в масс-спектрометре с такими источниками применяют либо анализаторы с двойной фокусировкой ( по массам и энергиям), либо квадрупольные и времяпролетные масс-анализаторы. Регистрация ионных токов с помощью усилителей постоянного тока позволяет измерять токи до 10 - - 15 а, а с помощью вторичноэлектронных умножителей - до Ю-19 а. [40]
Страницы: 1 2 3