Дополнительный пик

Cтраница 3

Установлено, что на активной переменнотоковой вольтамперограмме метилированной дезоксирибонуклеиновой кислоты ( ДНК), выделенной-из micreoccus lisodeikticus, в забуферирован-ном 1 М NaCl с рН - 5 8 -: - 7 8 наблюдается дополнительный пик восстановления с En - 1 46 В ( нас. [31]

Причина возникновения дополнительного пика неясна; в частности, он может быть обусловлен сорбцией и десорбцией этилендиаммониевого элюента ионообмен-ником в результате введения пробы и перемещения ее по колонке в виде пробки. Поэтому дополнительный пик может относиться к элюенту. [32]

Происхождение дополнительных пиков на ней легко понять из формального анализа условия Вульфа - Брэгга. [33]

В некоторых случаях изучение термограмм плавления и кристаллизации дает возможность оценить влияние условий кристаллизации на кристаллическую структуру полимера. Появление дополнительного пика объясняется наличием второй кристаллической формы пентона. Соотношение между двумя пиками плавления может меняться в зависимости от степени закалки полимера. Известно, что такая закалка резко влияет на свойства полимера, определяя области его практического применения, поскольку в процессе обработки увеличивается химическая устойчивость полимера к действию растворителей. Следовательно, используя метод ДТА, можно определить условия, требуемые для проведения закалки, способствующие проявлению максимальной устойчивости полимера. [34]

Во всех случаях наблюдали незначительное разложение кислот, более заметное для муравьиной кислоты. На хроматограммах обнаружен дополнительный пик, совпадающий по времени удерживания с пиком воды. [35]

Соотношение, связывающее энергию или частоту волны с ее обратной длиной, которое представляется дисперсионными кривыми, линейно для больших длин волн, причем наклон прямых задается в длинноволновом пределе упругими постоянными материала. Следовательно, интенсивность дополнительных пиков будет обратно пропорциональна квадрату их расстояния от точек обратной решетки. В результате для большого числа возможных волн, значения обратных длин волн которых распределены равномерно, дополнительные пики будут сливаться, давая области диффузного рассеяния с резкими максимумами в узлах обратной решетки. [36]

Если образец смешан с известным веществом, которое по предположению соответствует определенному пику, то при повторении хроматограммы высота этого пика должна увеличиться. Если же будет выявлен дополнительный пик, то вещества неидентичны. [37]

Водородный пламенно-ионизационный детектор. [38]

Газовые хроматограммы широко используют для оценки чистоты органических соединений. Загрязнения обнаруживают по появлению дополнительных пиков; площади под этими пиками дают информацию о степени загрязнения. Метод полезен также при оценке эффективности операции очистки. [39]

АЯК - полуширина резонансной кривой спиновых волн), возникает нестабильность, вызванная нарастанием амплитуд спиновых волн с половинной частотой по отношению к частоте однородной прецессии. Это проявляется в появлении дополнительного пика поглощения мощности, который наблюдали Бломберген и Уанг. [40]

Следовательно, фотопик, соответствующий любым у-квантам с низкой энергией, всегда сопровождался дополнительным пиком с энергией на 28 кэв ниже. Вообще говоря, размеры дополнительного пика относительно основного пика возрастают с уменьшением энергии у-излучения, поскольку чем ниже энергия у-квантов, тем больше взаимодействий происходит вблизи поверхности кристалла. Для примера на рис. 95 приведено типичное амплитудное распределение, включающее дополнительный пик. [41]

Финбак [25] усомнился в существовании такого дополнительного пика, а более поздние эксперименты [31] показали, что этот пик ложный. Если вычесть ложный пик из первоначальной экспериментальной кривой, то построение согласующихся с экспериментальными результатами симметричных пиков функций rg ( r) становится невозможным. [42]

С ростом температуры линии, связанные с подзоной Е0, сдвигаются и амплитуда их уменьшается, что видно на графике, помещенном на врезке. Одновременно со стороны низкой концентрации электронов возникает малый дополнительный пик, амплитуда которого возрастает. Предполагается, что этот пик обусловлен переходами из нижней заполненной при достаточно высокой температуре подзоны, кратность долинного вырождения которой равна четырем и которой соответствует легкая масса в направлении, перпендикулярном поверхности полупроводника. Еп намного меньше теоретически предсказываемого значения, чтобы объяснить наблюдаемую температурную зависимость относительной амплитуды резонансов поглощения. Этот вопрос обсуждается также в § 2 гл. [43]

Зависимость объемной скорости газа-носителя на входе от времени для режима пробы без делителя потока ( 60 с.| Влияние обдува мембраны на форму пика. [44]

На рис. 3 - 16 приведены хроматограммы, полученные при анализе стирола и иллюстрирующие влияние температуры узла ввода. Повышение температуры узла ввода может явиться причиной явления дополнительных пиков на хроматограмме. Отметим, что при более высоких температурах на хроматограмме не только появляется больше пиков, но и соотношение истинных пиков ( определенное путем непосредственного ввода пробы в колонку) также изменяется. Непосредственный ввод пробы в колонку позволяет получать наиболее точные результаты. Данные анализа свидетельствуют о том, что при вводе испаренной пробы наблюдается дискриминация ее компонентов, вызванная шприцем. Как указывалось ранее, дискриминация компонентов пробы за счет шприца является одной из основных причин ошибок. Часто приходится анализировать пробы ( биологические образцы и объекты окружающей среды), содержащие побочные продукты большой молекулярной массы. Низкая температура узла ввода в отсутствие деления потока приведет к тому, что низколетучая основа будет удерживать представляющие интерес соединения. Для того чтобы повысить диффузию компонентов с нелетучей основы, необходимо поднять температуру узла ввода. [45]

Страницы: 1 2 3 4