Двойной пик

Cтраница 1

Двойной пик на кривой элюирования галлия, очевидно, прямо связан с двойным пятном, наблюдаемым на бумаге при элюиро-вании концентрированной соляной кислотой. [1]

Разделение двойного пика 1-бутен-изобутен определялось отношением разности высот пиков изобутена и 1-бутена к высоте седловины между ними. [2]

Наличие двойного пика плавления у образцов полимера со средними молекулярными весами было объяснено изменением морфологии кристаллов. На рис. 9.9 показано, как расширяется температурный интервал плавления политетрафторэтилена, закристаллизованного из расплава, при увеличении скорости нагревания. [3]

Форма указанных двойных пиков меняется в зависимости от ширины полос на хроматограмме, так как длина промежуточного капилляра постоянна, и для более широких пиков их прохождение через вторую кювету фотометра начинается до того, как через первую кювету прошел максимум. Однако указанная форма пиков хорошо воспроизводится, что позволяет, пользуясь предварительной градуировкой, получать надежные количественные результаты. [4]

В этом случае также наблюдается двойной пик плавления, возникновение которого объясняют образованием относительно совершенных тонких ламелей, которые при нагревании перестраиваются в меньшей степени, чем более дефектные вначале кристаллы, плавяшиеся в конце концов после совершенствования при более высокой температуре ( см. гл. [5]

Если в характере одной полосы захвата выявится очевидный двойной пик или подобная неравномерность распределения, будет невозможно обеспечить желательную равномерность распределения удобрения при многократных заходах самолета. Наилучшее наземное распределение удобрения имеет вид трапеции, наклонные стороны которой оставляют достаточно места для перекрытия при точной трассе заходов. [6]

Тонкие различия между кривыми, такие, как двойной пик при 3 4 МэВ в процессе б, которому отвечает лишь одинарный пик в процессе в, могут быть объяснены разным разрешением по энергии в этих экспериментах. [7]

Это соединение обладает сильным светопоглощением в ультрафиолетовой части спектра и имеет двойной пик при 200 - 230 нм и широкий максимум при 305 нм. Для аналитических целей более пригоден второй максимум. Методика определения заключается в следующем: к анализируемому раствору сульфата прибавляют известное количество реагента, выдерживают смесь 30 мин для образования сульфата 2-аминоперимидина и измеряют светопо-глощение при 305 нм после осветления раствора центрифугированием. Описанная методика позволяет определять 4 - 120 ррт сульфатов. Мешающее действие 100 ррт фторидов, нитратов и фосфатов при определении 50 ррт сульфатов выражено в слабой степени. [8]

Степень кристалличности различных образцов полиэтилена. [9]

Степень кристалличности полиэтилена была рассчитана путем сравнения площади соответствующего эндотермического пика с площадью двойного пика дотриаконтана. [10]

Индексы удерживания как функция структуры и числа атомов углерода. [11]

Один соответствует нормальному алкану и имеет наиболее высокий индекс удерживания, два других образуют двойной пик. Различие между RI н-алкана и двойным пиком возрастает с увеличением числа атомов углерода от 17 для гептаков и до 44 для ун-деканов. Обычно пик с наименьшим RI без дублета соответствует продукту, образующемуся при присоединении 3-гексильного радикала. Это справедливо только для парафинов, содержащих больше 8 атомов углерода. В случае изооктаноз два пика близко совпадают, и при меньшем числе атомов углерода наблюдается обратный порядок. [12]

Температурная зависимость внутреннего трения и динамического модуля для ПТФЭ различной кристалличности при частотах 10 - 15 - 106 гц. [13]

Для высококристаллического образца ( - 92 %), по данным Мак-Крума [146], обнаруживается двойной пик с одним максимумом при 320 К ( Pi) и другим максимумом при - 350 К ( Ра); Для образцов с кристалличностью 48 и 64 % также наблюдается четвертый максимум меньшей величины, чем другие. [14]

Наилучшие результаты дает метод второй производной, который позволяет не только обнаружить и локализовать пик на большом фоне, но и отличить действительно одиночный пик от края непрерывного распределения или двойного пика. Суть метода состоит в том, что вторая производная от сглаженного спектра отлична от нуля только внутри пика. Однако из-за статистической природы исходных данных разброс значений второй производной очень велик и для обнаружения слабых пиков приходится прибегать к сглаживанию спектра второй производной. [15]

Страницы: 1 2 3 4