Cтраница 4
Существенное влияние на спектральную характеристику чувствительности элементов оказывает отражение излучения от металлического слоя. При указанной толщине пленки золота минимум коэффициента отражения и максимум на кривой спектральной чувствительности соответствуют длине волны света - 0 5 мкм. При использовании просветляющего покрытия форма кривой значительно изменяется. Коэффициент собирания носителей заряда в коротковолновой части спектра выше, чем в длинноволновой, что свидетельствует о низкой концентрации рекомбинационных центров в области перехода и о малой диффузионной длине носителей внутри пленки CdSe. [46]
Крепление выводов из никелевой проволоки к кремниевым пластинам, позволяющее осуществить контакт выводов с рабочими областями приборов без повреждения поверхности кремния в месте соединения, состоит в следующем. На поверхность кремния предварительно напыляется пленка золота, поверх которой напыляется пленка никеля и полученная система нагревается до образования эвтектического сплава золота с кремнием. [47]
Очень тонкие пленки золота пропускают свет. Еще Майкл Фарадей наблюдал цвет пленки золота толщиною около 0 1 мкм; в отраженном свете такая пленка желтая, а в проходящем-сине-зеленая. Опыт Фарадея можно легко повторить. Еще более тонкие пленки кажутся почти бесцветными в отраженном свете и розово-красными-в проходящем. В настоящее время самая тонкая золотая фольга ( ее получили в 1983 г.) имеет толщину 0 025 мкм; в такой фольге менее 200 атомных слоев золота. [48]
Золотой электрод после растворения осадка сохраняет свой блестящий вид, что, повидимому, доказывает отсутствие химической реакции между теллуром и золотым электродом. Несомненно, что в противном случае пленка золота, имеющая массу порядка 2 - Ю 5 г, была бы разрушена. [49]
Пленки никеля, палладия и золота [20] состоят из хорошо ограненных кристаллитов большей частью правильной геометрической формы с гранями ( 111), параллельными подложке. На рис. 9 и 10 показаны такие пленки золота и палладия. Очевидно, что пятиугольные кристаллиты не могут иметь идеальную кристаллографическую структуру кубической симметрии. По-видимому, структура реальных кристаллитов релаксирует, и поэтому между двойниками не образуются дислокации. Структуру с гексагональной в плане симметрией и отвечающими эксперименту дифракционными свойствами на первый взгляд можно получить двойникованием 16 тетраэдров, однако нерегулярный характер одной из граней делает труднообъяснимой частоту появления гексагональной структуры. Двойникование 20 тетраэдров дает трехмерный икосаэдр ( рис. 11, в), имеющий гексагональную проекцию и требуемые дифракционные свойства. Кристаллиты с гексагональной проекцией скорее всего представляют собой икосаэдры. [50]
Следует, однако, отметить, что напряжение отсечки ДИ с твердым электролитом нередко оказывается невозможным устанавливать выше 0 6 В ввиду низкого напряжения разложения электролита. Поверхность рабочего электрода в этих ДИ покрыта пленкой золота. [51]
Зависимости оптических постоянных п и k при длине волны 0 59 мкм ( а и коэффициента заполнения q ( б пленок серебра от их толщины d. [52] |
Оптические постоянные и, следовательно, коэффициенты отражения R и пропускания Т зависят от микроструктуры пленок. На рис. 3.38 приведены спектральные зависимости R и Т пленок золота различной толщины, полученных при одной и той же температуре подложки, и пленок Аи одинаковой толщины, которые осаждались на подложки с различной температурой. При понижении температуры осаждения размер зерен уменьшается и возрастает концентрация дефектов. Дополнительный пик поглощения при длине волны 1 мкм связан с рассеянием света на границах мелких зерен. [53]
Для создания термокомпрессионных контактов на микросхемах, выполненных на стеклянных и керамических подложках, необходимо, чтобы температура подложки не поднималась выше 200 С. Наилучшие результаты дает термокомпрессия золотой проволоки толщиной 50 - 250 мкм к пленке золота, полученной напылением в вакууме. Для обеспечения хорошей адгезии пленки к поверхности полупроводника последний предварительно покрывается подслоем из никеля и хрома. [54]
Свет, проходя через полупрозрачный слой золота, попадает в светочувствительный слой селена и вырывает из него электроны, которые движутся к золотой пленке. При облучении фотоэлемента светом определенного спектрального состава и интенсивности возникает некоторая разность потенциалов между пленкой золота и слоем селена. Если присоединить к фотоэлементу между этими слоями гальванометр с очень малым сопротивлением, то ток, проходящий через гальванометр, практически не будет отличаться от тока, который получился бы при коротком замыкании фотоэлемента без последовательно включенного гальванометра. Установлено, что фототок короткого замыкания прямо пропорционален мощности лучистой энергии, попадающей на фотоэлемент. Отступления от прямой пропорциональности связаны с изменением соотношения между сопротивлением внешней цепи ( гальванометра) и уменьшающимся под влиянием света сопротивлением запирающего слоя. [55]
Зависимость длины поглощения электронов в пленках золота от энергии электрона. [56] |
Из выражения (10.43) видно, что коэффициент передачи а определяется главным образом длиной поглощения электронов в металле, которая весьма чувствительна к структурным несовершенствам пленки. В качестве примера на рис. 10.9 показана экспериментальная кривая зависимости а от энергии электронов для пленок золота. [57]
Зависимость длины поглощения избыточной энергии горячих электронов в пленке золота от их полной энергии. [58] |
Длина свободного пробега горячих электронов зависит от их энергии. На рис. 4.7 в качестве примера приведена экспериментальная зависимость длины поглощения избыточной энергии горячих электронов в пленке золота от их полной энергии. [59]