Тонкая металлическая пленка

Cтраница 3

Распределение по направлениям излучательной ( поглощательной способности металлических излучателей L8J.| Зависимость нормальной излучательной способности диэлектриков от длины волны [ 9J. [31]

У очень тонких слоев или тонких металлических пленок ( толщина примерно равна длине волны) отражательная способность заметно возрастает, что вызвано уменьшением коэффициента поглощения. Как следствие, они становятся прозрачными при гораздо больших значениях толщины, чем можно было бы ожидать, учитывая их коэффициент поглощения. [32]

На электрические и физические свойства тонких металлических пленок большое влияние оказывают всевозможные загрязнения, вызванные недостаточной чистотой используемых материалов, химическими реакциями в процессе нанесения тонких пленок, физической сорбцией свеженанесенных слоев и пр. [33]

Использование в качестве проводящих слоев тонких металлических пленок, образованных на поверхности изоляционной детали, позволяют получить резисторы с широким диапазоном значений сопротивлений. Стоимость таких резисторов значительно ниже стоимости резисторов, изготовленных из провода малого сечения. [34]

Кроме размерного эффекта на проводимость сплошной тонкой металлической пленки влияет также рассеяние электронов на всевозможных дефектах структуры, включая примеси, границы микрокристаллитов и пр. [35]

С помощью современных болометров, представляющих тонкие металлические пленки, нанесенные на изоляционную подложку, можно фиксировать изменение температур До 10 - 7 С и обнаруживать лучистые потоки до Ю-10 вт вплоть до субмиллиметровых волн. Работает болометр обычно в мостовой схеме, питаемой постоянным или переменным током. [36]

Учитывая, что материал подложки и тонкая металлическая пленка выдерживают значительные нормальные давления, деформацией пленочной контактной площадки можно пренебречь. [37]

Линзы из фольги, состоящие из тонкой металлической пленки, прозрачные для частиц и обеспечивающие разрывы в распределении поля. [38]

Изучено влияние структуры и физико-химических свойств тонких металлических пленок, нанесенных на неметаллические материалы, на смачиваемость расплавами металлов. Полученные величины критических толщин смачивания объяснены в зависимости от структуры пленки, ее взаимодействия с подложкой, температуры опыта и ряда др. факторов. [39]

Сейчас имеются доказательства существования плазмонов в тонких металлических пленках по спектрам характеристических потерь энергий электронов. Что касается атомных плазмонов, то в литературе до сих пор не утихают споры о их существовании. Нет теории, которая бы удовлетворительно описала все особенности экспериментальных спектров, правда, часть теоретиков считает, что точность расчетов достаточна, но требуется более тщательный эксперимент. [40]

Другой поглощающий элемент для болометров состоит из тонкой металлической пленки, укрепленной на диэлектрике. Как и ранее, необходимо принять меры, чтобы условия нагрева токами высокой и низкой частоты были эквивалентными. В энтракометре Колларда [67] для частоты 9 5 Ггц пленка имеет структуру сетки и занимает участок боковой стенки волновода, при этом поглощается только часть передаваемой мощности. В более поздних моделях резистив-ная пленка располагается поперек волновода и обладает такой величиной поверхностного сопротивления, что падающая мощность поглощается полностью с незначительным отражением. Были разработаны модели для частотных диапазонов 11 5 - 18 0 Ггц, 18 0 - 26 5 Ггц и 26 5 - 40 Ггц с пределами измерения мощности от 1 до 100 мет. На частотах 4 и 7 Ггц имеются энтракометры для измерения мощностей порядка 1 вт. [41]

Зурманом [62-65] были разработаны методы измерения электропроводности тонких металлических пленок во время хемосорбции ряда простых адсорбатов, в том числе воды. Электропроводность металлической пленки будет изменять - ся во время акта хемосорбции или десорбции, если электроны молекул адсорбата принимают участие в электронной проводимости самого металла или электроны проводимости металла входят в состав электронных оболочек молекул адсорбата. [42]

Подобная оценка была сделана по отношению к тонким металлическим пленкам, прилипшим к полимерным материалам. При отрыве металлической пленки от подложки ей сообщается электрический заряд. [43]

Современная теория физических процессов, развивающихся в тонких металлических пленках, в ряде случаев позволяет объяснить влияние адсорбированных частиц на электрофизические свойства тонких пленок. Изменение состояния поверхности металлической пленки при адсорбции на ней молекул адсорбата может существенно влиять на ее электропроводность. Так, если адсорбция сопровождается обменом электронами между адсорбированной частицей и металлом, может измениться концентрация электронов в зоне проводимости металла и, следовательно, электропроводность пленки. [44]

В работе [23] достаточно полно рассматриваются методы получения тонких металлических пленок, а работа [19] посвящена свойствам этих пленок, поэтому в нашем обзоре будет приведено только несколько характерных методик. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5