Плоскость - пленка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Лучше уж экстрадиция, чем эксгумация. Павел Бородин. Законы Мерфи (еще...)

Плоскость - пленка

Cтраница 3


В системе отсутствуют трапецеидальные искажения, так как на плоскость пленки проектируются растры, лежащие в плоскости трубки. Если объектив в пределах всего рабочего угла 2J3 обеспечивает высокую разрешающую способность и имеет малые значения дистор-сии, то можно получить очень высокое качество совмещения. Практически при использовании объектива И-29 с фокусным расстоянием f80 ммм светосилой 1: 2 8 можно систему отъюстировать таким образом, что в полученном изображении не удастся обнаружить несовмещения даже с помощью специального тестфильма.  [31]

32 Микрофотография в электронном микроскопе пленки, состоящей из 61 % N1 и 19 % Fc, напыленной под углом 85 на подложку, нагретую до 200 С. Тень, отбрасываемая большой частицей грязи, показывает направление испаряемого пучка. [32]

Если вектор М составляет угол в с нормалью к плоскости пленки и при этом не учитывается анизотропия в плоскости пленки, то энергия анизотропии может быть записана в виде Е - Л sin 26, где К, - константа перпендикулярной анизотропии. Согласно этому выражению, при / Cj О нормаль к пленке является трудной осью, а плоскость пленки легкой плоскостью. Таким образом, если Kj определяется только размагничивающим фактором формы пленки, разд. Однако различные измерения указывают на возможности дополнительных структурных компонент К, так что К, 2яМ2 - - К, Во многих случаях К отрицательна и, таким образом, Jtt может располагаться нормально к плоскости пленки.  [33]

34 Зависимость нормированной резонансной частоты от нормированного резонансного поля для параллельного резонанса, ( ок - t ( 4яЛ. / / к / Внутреннее поле Hi порядка 1 Э, Н 5 19 Э. [34]

Нг соответственно перпендикулярно или параллельно ЛО, лежащей в плоскости пленки.  [35]

36 Элемент на тонкой магнитной пленке. [36]

Практически перемагничивание пленок когерентным вращением осуществляется полями, параллельными плоскости пленки и направленными под углом к легкой оси. Пример элемента такой конструкции приведен на рис. 3 - 15, а, где направление Р - N соответствует направлению оси легкого намагничивания; проводник ( шина) / - разрядная шина, по которой подается записываемая информация ( О или 1); шина 2 - числовая шина, по которой подается управляющий сигнал на считывание или запись; шина 3 - выходная, с которой снимается считанная информация.  [37]

Практически перемагничивание пленок когерентным вращением осуществляется полями, параллельными плоскости пленки и направленными под углом к легкой оси. Пример элемента такой конструкции приведен на рис. 3 - 15, а, где направление Р - N соответствует направлению оси легкого намагничивания; проводник ( шина) / - разрядная шина, по которой подается записываемая информация ( нуль или единица); шина 2 - числовая шина, по которой подается управляющий сигнал на считывание или запись; шина 3 - выходная, с которой снимается считанная информация.  [38]

Получим теперь уравнение для определения движения маркированного элемента в плоскости пленки. Предположим, что функция а ( Н, t), имеющая при t О заданный вид а0 ( Н), известна в любой момент времени.  [39]

Они выбираются так, чтобы плоскость ху совпадала с плоскостью пленки. Если заменить у и ф в уравнении ( 73) на у и ф, то компоненты интенсивности поглощения Ах, Ау и Аг должны быть заменены на Ау, Аг и Ах соответственно.  [40]

Приложим теперь к размагниченному образцу внешнее магнитное поле, перпендикулярное плоскости пленки. В коне концов, при достаточно высокой напряженности внешнего поля ( поля смещения) домены с намагниченностью, противоположной этому полю, исчезают совсем и достигается полная намагниченность пленки вдоль поля.  [41]

Подобного рода съемки могут быть произведены без дефектов, если плоскость пленки будет согласована с положением объекта при помощи уклонов в аппарате.  [42]

Разработаны модуляторы на ТМП, в которых свет распространяется в плоскостях пленки.  [43]

В такой системе ориентация молекул задается директором п, лежащим в плоскости пленки. Таким образом, тепловые флуктуации размывают двумерную нематическую структуру. Как и в случае твердокристалличе-ской двумерной структуры ( § 137), однако, логарифмический характер расходимости не исключает возможности существования такой структуры в участках конечного размера.  [44]

45 Зависимость cos ( x для периодической ДС широбоковского типа ( сплошная кривая, О 0 и кацеровского типа ( штриховая кривая, - 1 С 0. [45]



Страницы:      1    2    3    4    5