Cтраница 3
Для пространственных полей плотность циркуляции дает лишь проекцию вихря ва направление нормали к прощадке S; сам же вихрь является вектором. Можно считать, что и в плоском поле вихрь является вектором, направленным перпендикулярно к плоскости поля. [31]
Таким образом, если золь состоит из палочкообразных частиц, расположенных беспорядочно в пространстве, то эти частицы, несмотря на их одинаковые размеры, будут видны в виде точек различной яркости. Так как частицы в золе находятся в броуновском движении, то они все время будут менять свою ориентировку по отношению к освещаемому лучу и плоскости поля зрения, и, наблюдая в ультрамикроскоп, мы заметим то потухание, то вспыхивание частиц - мерцание. [32]
Заметим попутно, что говоря о линии при исследовании плоско-параллельных полей мы фактически имеем в виду цилиндрическую поверхность, проходящую через эту линию перпендикулярно к плоскости поля; под точкой мы имеем в виду прямую, образующую этой цилиндрической поверхности, проходящую через данную точку; а под областью - цилиндрическое тело. [33]
ABCD ( самого поля ABCD на эпюре нет), которое мы первоначально для упрощения принимаем плоским1, а т и т - соответствующие проекции фигуративной точки М исходного раствора, найденные методом, указанным в предыдущем разделе. Соединяем прямой точку М пространственной модели с вершиной полуоктаэдра О и находим по правилу, данному в курсах начертательной геометрии, пересечение этой прямой с плоскостью поля ABCD. Для этого из точек п к р опускаем перпендикуляры на ось проекции ху и продолжаем их до пересечения с соответствующими вертикальными проекциями а Ъ и c d в точках п ир, а через точки п ир проводим прямую п р; пересечение ее с линией От и будет вертикальной проекцией q искомой точки пересечения Q линии ОМ с полем ABCD в полутетраэдре. [34]
Палочкообразные частицы дают максимальное количество света ( вспышки), когда они расположены перпендикулярно к падающему лучу и находятся в плоскости поля зрения. Пластинчатые же частицы имеют уже не одно, а два положения Максимальной видимости ( вспышки), а именно, когда пластинка расположена: 1) в плоскости поля зрения и 2) перпендикулярно падающему лучу; наименее видима пластинчатая частица при расположении 1) перпендикулярном к полю зрения и 2) вдоль падающего луча. [35]
Если принять что величина D равна разности расстояний по лучу зрения между фокусами, расположенными в параллельных плоскостях, проходящих через основание и верхнюю точку одной и той же частицы, то измерение толщины частицы можно заменить измерением линейной величины / на плоскости их изображения. При Этом следует отметить, что сравнительно большое увеличение, получаемое с помощью микроскопа, значительно повышает стереоскопический эффект, а относительная погрешность в определении толщины связана с точностью измерения под микроскопом в плоскости поля зрения, зависящей от технических данных микроскопа. [36]
Почти во всех интересных для практики случаях приходится иметь дело с построением плоских траекторий в плоских или аксиальносимметричных электрических полях, которые могут быть заданы либо системой эквипотенциальных линий, лежащих для плоского поля в плоскости, перпендикулярной к той координате, от которой потенциал не зависит ( см., например, рис. 11), или в меридианной плоскости аксиальносимметричного поля, либо аналитически-математическими формулами. Напомним, что и в последнем случае далеко не всегда удается аналитически рассчитать траектории. [37]
В последнее время большое внимание уделяется разработке устройств для регистрации интерференционной картины фотоэлектрическим методом. Сущность метода заключается в следующем. В плоскости поля интерференции располагается щель или непрозрачная диафрагма с отверстием. При движении щели или диафрагмы перпендикулярно направлению интерференционных полос или вдоль диаметра интерференционных колец через щель или отверстие в диафрагме проходит световой поток. За щелью находится фотоэлектрический приемник излучения. Электрические импульсы, полученные с приемника, усиливаются и после преобразования записываются регистрирующим устройством. Очевидно, что сигнал с приемника пропорционален падающему на него световому потоку и зависит от положения щели ( отверстия) в поле интерференции. [38]
Здесь К обозначает показатель светлоты, а У и Уф - коэффициенты яркости образца и фона соответственно. Параметр р обозначает размер образца, малые значенияр соответствуют небольшим образцам. Параметр q обозначает уровень освещенности в плоскости поля наблюдения фона и образца. Параметр а обозначает состояние адаптации глаза наблюдателя. [39]
Так как на одну из осей наложено ограничение быть линией уровня, то проще всего задать угол наклона этой оси по отношению к одной из осей координатной плоскости базовой системы, параллельно которой взята линия уровня. Задав далее cos if угла наклона плоскости поля задачи либо угол я ( имеется стандартная подпрограмма вычисления тригонометрических функций), мы определим положение местной системы. [40]
Контактной структурой называется поле гиперплоскостей, являющееся полем общего положения вблизи каждой точки нечетномерного многообразия. Контактным является многообразие всех линейных элементов на плоскости. Контактная структура задается так: скорость движения элемента принадлежит ( гипер) плоскости поля, если скорость движения точки приложения принадлежит элементу. Точно так же определяется контактная структура в 2л - 1-мерном многообразии элементов гиперплоскостей на любом n - мерном многообразии. [41]
Теорема становится неверной, если в ее формулировке поле направлений заменить на поле плоскостей. Поле плоскостей - это соответствие, сопоставляющее каждой точке области векторного пространства проходящую через нее плоскость. Интегральная поверхность поля плоскостей - это дифференцируемая поверхность, касательное пространство к которой в каждой точке совпадает с плоскостью поля. [42]
Однако подобные объяснения механизма структурного застывания в значительной доле составлены на основании умозрительных построений и не подтверждаются в должной степени прямым опытом. В частности, исследования и наблюдения, проводившиеся авторами, показали, что структурное застывание нефтяных продуктов всегда сопряжено с образованием связанной кристаллической сетки парафина. При этом видимость отдельных кристалликов, составляющих сетку, оказывается различной: наиболее видимыми являются кристаллики, лежащие на ребре по отношению к плоскости поля зрения; менее видимыми остаются кристаллики, наклоненные к плоскости поля зрения; и с трудом различимыми оказываются кристаллики, расположенные параллельно плоскости поля зрения. [43]
Однако подобные объяснения механизма структурного застывания в значительной доле составлены на основании умозрительных построений и не подтверждаются в должной степени прямым опытом. В частности, исследования и наблюдения, проводившиеся авторами, показали, что структурное застывание нефтяных продуктов всегда сопряжено с образованием связанной кристаллической сетки парафина. При этом видимость отдельных кристалликов, составляющих сетку, оказывается различной: наиболее видимыми являются кристаллики, лежащие на ребре по отношению к плоскости поля зрения; менее видимыми остаются кристаллики, наклоненные к плоскости поля зрения; и с трудом различимыми оказываются кристаллики, расположенные параллельно плоскости поля зрения. [44]
Однако подобные объяснения механизма структурного застывания в значительной доле составлены на основании умозрительных построений и не подтверждаются в должной степени прямым опытом. В частности, исследования и наблюдения, проводившиеся авторами, показали, что структурное застывание нефтяных продуктов всегда сопряжено с образованием связанной кристаллической сетки парафина. При этом видимость отдельных кристалликов, составляющих сетку, оказывается различной: наиболее видимыми являются кристаллики, лежащие на ребре по отношению к плоскости поля зрения; менее видимыми остаются кристаллики, наклоненные к плоскости поля зрения; и с трудом различимыми оказываются кристаллики, расположенные параллельно плоскости поля зрения. [45]