Cтраница 4
Непосредственное ультрамикроскопическое наблюдение не может дать представления об истинной форме коллоидной частицы, так как в ультрамикроскопе мы замечаем лишь место, где происходит явление диффракции. Интенсивность рассеянного света палочкообразной частицы больше, когда она освещается лучом света, падающим перпендикулярно ее длине. Рассматривая в ультрамикроскоп такую частицу, лежащую в плоскости поля зрения, мы получим от нее максимальное количество света IB том случае, когда она расположится перпендикулярно к падающему лучу, и минимальное количество - когда она расположится вдоль падающего луча. Минимальное количество рассеянного света наблюдается и в том случае, если палочкообразная частица расположится перпендикулярно полю зрения микроскопа. [46]
Это поле направлений продолжается и на линию критических точек проектирования в виде гладкого поля направлений. Особенности оно имеет лишь в тех местах, где плоскость поля касается медленной поверхности. Это может случиться для системы общего положения лишь в отдельных точках. Такие точки лежат обязательно на кривой складок, так как плоскость поля содержит вертикальное направление. [47]