Cтраница 3
Пренебрежем тем, что вдоль различных направлений одной кристаллической плоскости а может иметь разные значения. [31]
При напряжении, равном пределу текучести вщ между кристаллическими плоскостями граничного слоя возникает пластическое течение. [32]
Дифракция на пространственной решетке как результат интерференции волн, отраженных от отдельных плоских решеток. [33] |
Поэтому формально явление дифракции можно рассматривать как отражение от кристаллических плоскостей. [34]
Если диэлектрик является кристаллом, то поверхность должна быть кристаллической плоскостью. [35]
Если диэлектрик является кристаллом, то поверхность должна быть кристаллической плоскостью. [36]
При напряжении, равном пределу текучести Эщ, между кристаллическими плоскостями граничного слоя возникает пластическое течение. [37]
Как известно, каждый вектор b обратной решетки определяет семейство кристаллических плоскостей по уравнениям rb 2л т, где число т пробегает целые значения. [38]
Как известно, каждый вектор b обратной решетки определяет семейство кристаллических плоскостей по уравнениям rb 2тгга, где число га пробегает целые значения. [39]
Как известно, каждый вектор b обратной решетки определяет семейство кристаллических плоскостей по уравнениям rb 2л т, где число т пробегает целые значения. [40]
Поскольку координация адионов с атомами металла подложки зависит от природы кристаллической плоскости, в процессе растворения могут образовываться кристаллические грани различных индексов и с различной прочностью связи с адионами. После выключения тока анодного растворения те плоскости, которые содержат наибольшую концентрацию адионов, должны растворяться быстрее, чем плоскости с меньшей концентрацией адионов; осаждение ионов металла происходит соответственно на плоскостях с меньшей концентрацией адионов. [41]
В том же параграфе представлены дополнительные соображения в пользу модели кристаллической плоскости, не подтверждающие модель распределения. Перераспределение атомов поверхности металла под влиянием хемосорбции водорода обсуждается в § 6 на основе модели кристаллической плоскости. [42]
Преимущественная десорбция, таким образом, объяснена в рамках модели кристаллической плоскости в лучшем приближении, чем пропорциональное приближение. [43]
Эта величина в первом приближении пропорциональна количеству участвующих в отражении кристаллических плоскостей каждого блока, определяющему интенсивность рентгеновского рефлекса. [44]
Схема установки для анализа по методу Лауэ. [45] |