Поверхность - исследуемый - образец
Cтраница 4
В методе фототермоакустики лазерное ( в общем случае оптическое) излучение проходит через оптическую систему и попадает на поверхность исследуемого образца, в котором под воздействием излучения возникают температурные и акустические поля, по которым можно судить о структуре и параметрах изделия. [46]
В электронном микроскопе изображение поверхности во вторичных частицах создается благодаря развертке сфокусированного пучка электронов ( зонда) по поверхности исследуемого образца. [47]
Приведенные на рис. 70 микрофотографии поверхности ТСП с ЭФ-245 после испытаний в условиях трения получены с разных участков поверхности исследуемого образца и свидетельствуют о чрезвычайно интенсивном фибриллообразовании на всех участках. [48]
В методе фототермоакустики лазерное ( в общем случае оптическое) излучение проходит через оптическую систему и попадает на поверхность исследуемого образца, в котором под воздействием излучения возникают температурные и акустические поля, по которым можно судить о структуре и параметрах изделия. [49]
Большим преимуществом методов термометрии, расмотренных в этой главе, является слабая зависимость результатов от формы и качества поверхности исследуемого образца. Поскольку измеряются относительные величины, зависящие от температуры, отсутствует необходимость учета ряда геометрических факторов эксперимента, существенных для других методов. Эта особенность делает методы термометрии ФЛ и КР весьма универсальными. [50]
Существенной преградой на пути выполнения указанных выше изысканий, обзор которых дан в работах [5, 6, 17, 18], является возникновение на поверхности исследуемых образцов при их нагреве на воздухе слоя окислов, толщина которого возрастает по мере увеличения химической активности изучаемого материала, а также повышения температуры и длительности проводимого испытания. [51]
 |
Общий вид эллипсометра ЛЭФ-3. [52] |
Прибор снабжен микрообъективами; зеркальной диафрагмой и экраном, позволяющим визуально наблюдать в поляризованном свете увеличенную в 150 раз поверхность исследуемого образца. [53]
Таким образом, результативность и достоверность методов тепловой микроскопии зависят от факторов, оказывающих влияние на формирование геометрического профиля поверхности исследуемого образца: 1) от среды и условий испытания, обусловливающих ту или иную степень полноты отображения процессов, характерных не только для поверхностных слоев, но и для внутренних объемов исследуемых материалов; 2) от исходной рельефности микрошлифа, образующейся под влиянием способа его приготовления и выявления структуры образца. [54]
Одноступенчатые ( негативные) реплики приготовляют путем конденсации из паров углерода, кварца, титана и других веществ непосредственно на поверхность исследуемого образца, а двухступенчатые ( позитивные) - на предварительно изготовленный оттиск ( обычно из полистирола) исходного рельефа образца. Конденсацию ( напыление) проводят в вакууме. В качестве реплики для ряда исследуемых материалов ( меди, алюминия и др.) можно использовать окисную пленку, которая образуется при электролитическом или химическом оксидировании поверхности образца. [55]
Известны также способы оценки локальной проницаемости с помощью полупроводникового термоанемометра, непосредственного мгновенного определения переменных локальных скоростей фильтрации вдоль всей поверхности исследуемого образца с использованием специальной аппаратуры по измерению объемных расходов воздуха через небольшие участки в различных точках образца. [56]
 |
Принципиальные схемы, иллюстрирующие взаимное расположение съемочной камеры и объекта Е. [57] |
Полученные при съемке по методике, показанной на рис. 162, взаимно перекрывающиеся два снимка одного и того же участка поверхности исследуемого образца можно рассматривать на стереоскопических измерительных приборах ( например, таких, как стереокомпараторы СК-2 и СК-3 [110] типа 1818 фирмы Цейсе и др. [112]), а также определять по ним профиль микрорельефа и его высоту. [58]
Методы тепловой микроскопии основаны на том, что контраст изображения в световом микроскопе, которым оснащена соответствующая установка, обусловлен особенностями геометрического профиля поверхности исследуемого образца, находящегося в той или иной среде. Эти особенности определяются прежде всего спецификой поверхностных явлений в твердых телах. [59]
Страницы: 1 2 3 4