Поверхность - микрошлиф
Cтраница 3
Если конструкция микроскопа такова, что предметный столик микроскопа находится под объективом, то при наводке на фокус во избежание удара фронтальной линзой объектива о поверхность микрошлифа следует сначала при помощи макровинта приблизить объектив как можно ближе к поверхности микрошлифа ( смотря при этом на объектив и шлиф), а затем медленным подниманием объектива вверх с помощью того же макровинта произвести наводку на фокус. При небрежном обращении с микроскопом удар о фронтальную линзу объектива при наводке на фокус возможен также ( правда, с меньшей силой) и з том случае, если предметный столик микроскопа находится над объективом. [31]
Вырезку образцов для исследования микроструктуры производят так же, как и при макроанализе. Размеры поверхности микрошлифа не должны превышать 20x20 мм. Исследование микроструктуры образцов производят чаще всего на оптических микроскопах. Исследуемая поверхность должна быть очень тщательно подготовлена - отполирована. [32]
 |
Оптическая схема микроскопа МИМ-8. [33] |
Лучи света про-ходят через систему линз и диафрагм, падают на плоско-параллельную пластинку расположенную под углом 45, и, отражаясь от нее, освещают через объектив микрошлиф. Лучи, отраженные поверхностью микрошлифа, проходят снова через Объектив, пластинку и ахроматическую линзу. [34]
Полировку заканчивают после того, как микрошлиф приобретает зеркальную поверхность. Правильным критерием высокого качества поверхности микрошлифа является отсутствие на ней дефектов в виде рисок. [35]
 |
Микроструктура поверхностных слоев вкладышей шатунных подшипников коленчатого вала двигателей ЯМЗ. [36] |
В связи с этим нами было предпринято электронномикроскопи-ческое исследование границ между защитной пленкой и основным металлом. На хорошо промытую и обезжиренную спиртом поверхность микрошлифов в вакууме 10 - 4 - 10 - 5 мм рт. ст. с помощью электрической дуги напылялась тонкая углеродная пленка. Эта пленка точно воспроизводила рельеф поверхности и выдерживала последующее воздействие электронов в микроскопе. Пленку с образца снимали, нанося на нее каплю 10 % - ного раствора желатины, которая, высыхая, отделяла от поверхности угольную реплику. [37]
При наблюдении в светлом поле световые лучи попадают на микрошлиф через объектив, который собирает их на поверхности шлифа. Вследствие того, что при травлении поверхность микрошлифа становится неровной ( в результате неодинаковой тра-вимости разных фаз), отражение света от отдельных участков оказывается различным. Это позволяет обнаружить детал строения металла. [38]
Для исследования микроструктуры металлов и сплавов при помощи электронного микроскопа непригоден не только микрошлиф, но и тонкие металлические предметы. Для того чтобы исследовать микроструктуру, с поверхности микрошлифа снимают прозрачный слепок ( реплику), который пропускает электронные лучи. [39]
 |
Отражение потока света от поверхности микрошлифа. [40] |
Травление заключается во взаимодействии металла поверхности микрошлифа с химически активными растворами щелочей, солей, кислот в спирте или в воде в зависимости от свойств и строения исследуемого металла. При травлении реактив взаимодействует с различными участками поверхности микрошлифа неодинаково, что приводит к разной степени их травимости. [41]
 |
Микроструктура верхнего ( а и нижнего ( б, е бейннтов. [42] |
В объемах аустенита, обогащенных углеродом, если их пересыщение высокое, в процессе изотермической выдержки могут выделяться частицы карбидов, что, естественно, приведет к обеднению этих участков аустенига углеродом и к протеканию в них превращения по мартенситному механизму. Мартенситный механизм образования a - фазы обусловливает ее мартенситную структуру и появление характерного рельефа на поверхности микрошлифов, особенно заметного при образовании нижнего бей-нита. [43]
Вместе с те м непосредственное изучение структуры даже очень тонкого металлического предмета путем просвечивания не представляется возможным. Однако это затруднение било преодолено введением способа изготовления прозрачных реплик ( или слепков) с поверхности микрошлифа, отображающих характер этой поверхности, а следовательно, и структуры металла и пропускающих электронные лучи. [44]
Разновидностью освещения является косое освещение. Оно достигается смещением апертурной диафрагмы или источника света. При таком косом освещении выступающие участки на поверхности микрошлифа оказываются более светлыми и отбрасывают более резкую тень на остальную поверхность микрошлифа. Последняя, кроме того, в меньшей степени отражает лучи при косом освещении и, таким образом, еще больше возрастает контрастность изображения. [45]
Страницы: 1 2 3 4