Поверхность - микрошлиф - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Ценный совет: НИКОГДА не разворачивайте подарок сразу, а дождитесь ухода гостей. Если развернете его при гостях, то никому из присутствующих его уже не подаришь... Законы Мерфи (еще...)

Поверхность - микрошлиф

Cтраница 4


Разновидностью этого метода освещения является исследование при косом освещении. Оно достигается смещением апертурной диафрагмы или источника света. При таком косом освещении выступающие участки на поверхности микрошлифа оказываются более светлыми и отбрасывают более резкую тень на остальную поверхность микрошлифа. Последняя, кроме того, в меньшей степени отражает лучи при косом освещении и, таким образом, еще больше возрастает контрастность изображения.  [46]

Для электронного микроскопа оно более сложно, чем изготовление микрошлифа. Объект исследования должен быть прозрачным для электронов и поэтому весьма тонким. Такими объектами являются тонкие металлические пленки или реплики ( слепки), полученные с поверхности микрошлифа и отображающие характер этой поверхности, а следовательно, и структуры металла.  [47]

Приготовление объекта исследования для электронного микроскопа более сложно, чем изготовление микрошлифа. Объект исследования должен быть прозрачным для электронов и поэтому весьма тонким. Такими объектами являются тонкие металлические пленки или реплики ( слепки), полученные с поверхности микрошлифа и отображающие характер этой поверхности, а следовательно, и.  [48]

Дислокации, представляющие особый вид линейных дефектов кристалла ( см. стр. Эти пятна связаны с более сильной трави-мостью металла в области выхода скоплений дислокаций на поверхность, а также со скоплением примесей, окружающих дисло кацию. Для выявления пятен травления применяются различные методы, зависящие от природы металла и требующие особенно тщательной подготовки поверхности микрошлифа, исключающей механическое воздействие.  [49]

Трудно дать общую рекомендацию о том, какой метод и когда следует применять. Можно лишь отметить, что чаще других используется химическое травление. Практика показала, что наилучшим - наиболее универсальным и надежным методом удаления продуктов коррозии со сплавов на основе железа ( и даже для осветления поверхности микрошлифов) является обработка металла ингибированными кислотами. Вместе с тем отмечается [18], что для точного удаления продуктов коррозии со сплавов на железной основе при незначительной потере металла хорошие результаты дает описанная выше катодная обработка в щелочном растворе. Имеются также сведения [21], что катодное травление в растворе серной кислоты с ингибитором дает хорошие результаты при снятии продуктов коррозии с нержавеющей стали после коррозии в воде при повышенных температурах и давлении. По этим же данным катодное травление в 2 5 % - ном растворе H2SO4 с добавкой 6 г / л уротропина при комнатной температуре предпочтительнее при снятии продуктов коррозии с 5 % - ной хромистой стали по сравнению с травлением в щелочном растворе.  [50]

51 Схема сдвига. [51]

На рис. 1.3 показана микроструктура технически чистого железа, подвергнутого деформации при растяжении. Пластическая деформация происходит путем сдвига части зерна относительно других его частей. В одном зерне деформация распространяется по нескольким плоскостям скольжения. На поверхности микрошлифа они образуют ступеньки, называемые линиями сдвига.  [52]

Сущность процесса выявления структуры металлов и сплавов травлением заключается в различной степени растворения или окрашивания отдельных структурных составляющих - зерен чистых металлов, твердых растворов, химических соединений. Различные структурные составляющие обладают разным электродным потенциалом. Когда полированная поверхность сплава покрыта травителем, являющимся электролитом, одни структурные составляющие сплава, имеющие более электроотрицательный электродный потенциал, будут являться анодами и растворяться, другие структурные составляющие, с более положительным электродным потенциалом, будут катодами и сохраняться неизменными. Так как таких анодных и катодных участков много, то в результате травления на поверхности микрошлифа образуются многочисленные впадины и выступы, которые и характеризуют микроструктуру сплава.  [53]

54 Наложение кривых охлажд & ния на диаграмму изотермического распада аустенита.| Схема анизотермиче-ской ( термокинетической диаграммы превращения переохлажденного аустенита. [54]

Наличие обоих признаков обязательно. Если соблюдается только один, то превращение не может быть отнесено к классу мартен-ситных. Например, при обычном полиморфном превращении по диффузионному механизму в чистых металлах состав исходной и конечной фаз, разумеется, одинаков, а игольчатая структура и рельеф на поверхности не возникают. В случае бейннтного превращения пли образования видманштеттового феррита получаются игольчатые структуры и рельеф на поверхности микрошлифа. Однако эти превращения требуют предварительного диффузионного перераспределения растворенных атомов углерода.  [55]

56 Микроструктура меди. ХЮО. [56]

Наконец, на однофазных сплавах можно выявить дислокации, представляющие собой особый вид линейных дефектов кристалла. Они выявляются по специальным фигурам травления - группировкам пятен травления. Эти пятна связаны с более сильной травимостью металла в области выхода скоплений дислокаций на поверхность, а также со скоплением примесей на дислокациях. Для выявления пятен травления применяют различные методы, зависящие от природы металла и требующие особенно тщательной подготовки поверхности микрошлифа, исключающей механическое воздействие.  [57]

При приготовлении образцов для растровой электронной микроскопии можно использовать металлографические методы, применяемые при подготовке микрошлифов для наблюдения с помощью СМ. Наибольшие различия при этом заключаются в способах травления микрошлифов. В световой металлографии структура выявляется за счет разности скоростей коррозии отдельных структурных составляющих и за счет различия продуктов химического взаимодействия травителя с образцом, осаждающихся на определенных элементах структуры. Реактивы, образующие на отдельных структурных составляющих тонкие пленки, изменяющие отражательную способность образца, непригодны для РЭМ. Для образцов РЭМ используют только реактивы, образующие рельеф на поверхности микрошлифов.  [58]

59 Микроструктура меди, х 100. [59]

Применяя глубокое травление, в этих структурах можно выявить так называемые фигуры травления - геометрически правильные углубления или выступы, ограниченные определенными кристаллографическими плоскостями. Измеряя углы между гранями или определяя направления ребер на фигурах травления, можно установить ориентировку каждого кристаллита и, следовательно, ориентировку всей совокупности кристаллитов. Наконец, на однофазных сплавах можно выявить дислокации, представляющие собой особый вид линейных дефектов кристалла. Они выявляются по специальным фигурам травления - группировкам пятен травления. Эти пятна связаны с более сильной травимостью металла в области выхода скопления дислокаций на поверхность, а также со скоплением примесей на дислокациях. Для выявления пятен травления применяют различные реактивы, зависящие от природы металла и требующие особенно тщательной подготовки поверхности микрошлифа, исключающей механическое воздействие.  [60]



Страницы:      1    2    3    4