Поверхность - переход - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Для нас нет непреодолимых трудностей, есть только трудности, которые нам лень преодолевать. Законы Мерфи (еще...)

Поверхность - переход

Cтраница 2


Электрохимическое травление - новый и более прогрессивный метод очистки поверхности переходов. Оно не требует применения агрессивных и вредных травите-лей и хорошо поддается регулированию, контролю и автоматизации.  [16]

17 Общий вид вентилей зарубежных фирм. [17]

В большинстве случаев это не позволяет отводить тепло с обеих поверхностей перехода. Так как выпрямительные свойства электронно-дырочного перехода зависят от температуры, необходимо обеспечить достаточный отвод тепла с тем, чтобы не допустить чрезмерного повышения температуры перехода. Поэтому полупроводниковые вентили не могут быть использованы на полную мощность без дополнительного теплоотвода.  [18]

19 Зависимость сопротивления коллектора транзистора от температуры. [19]

Уменьшение сопротивления коллектора с ростом температуры объясняется влиянием сопротивлений утечки по поверхности перехода и корпуса транзистора, которые с ростом температуры уменьшаются.  [20]

При возрастании величины ср наблюдается существенное отклонение нагрузки по обе стороны от поверхности перехода от расчетных значений по одномерной теории. Наблюдаемое отклонение не может быть связано с влиянием радиальной инерции, поскольку вызванные ею колебания легко усредняются вследствие большой длительности импульса нагрузки.  [21]

Полученные в этой же работе данные о свойствах течения газа в окрестности поверхности перехода от до - к сверхзвуковым скоростям легли в основу расчета так называемых безударных г сопел Лаваля - расчета, выполненного С. А. Христиановичем совместно с В. С. Астровым, Л. М. Левиным и Е. П. Павловым в 1943 г. 2 Здесь же следует указать на более поздние ( 1949 - 1950) исследования Овсянникова3 околозвуковой области в сопле Лаваля с прямой линией перехода и его вывод о том, что возможные типы околозвуковых течений определяются свойствами некоторой функции, которые и характеризуют все особенности течений газа с прямой линией перехода.  [22]

Практически величина дифференциального сопротивления определяется величиной токов утечки, возникающих вследствии загрязнения поверхности р-п перехода. Поэтому величина дифференциального сопротивления оказывается ниже расчетной, однако не меньше мегома.  [23]

В теории теплопроводности найдено решение этого уравнения при соответствующих граничных условиях на поверхностях перехода из одной среды в другую ( равенство температур и тепловых потоков) и теплообъеме на наружной поверхности по закону Ньютона.  [24]

В действительности нужно учитывать, что емкость и сопротивление затвора распределены по всей поверхности перехода и что сопротивление канала является также распределенным. Эта схема значительно сложней, и пользование ею для рассмотрения некоторых зависимостей затруднительно.  [25]

В случае течения вязкопластичных сред с пределом текучести TO необходимо определить также координаты поверхности перехода от зоны твердого состояния среды к области сдвигового течения.  [26]

При диффузионном перемещении в базе часть электронов рекомбинирует с дырками в ее объеме и на поверхности перехода, а также рассеивается на не-однородностях кристаллической решетки; оставшиеся электроны подхватываются полем коллекторного перехода и выносятся в коллектор. При этом результирующий ток коллектора / к суммируется из двух составляющих, одна из которых обусловлена инжекцией подвижных носителей заряда из эмиттера, а вторая - обратным смещением на коллекторе. В этом смысле работа коллекторного перехода не имеет полной аналогии с работой обратносмещен-ного диода, поскольку через последний протекает только вторая составляющая за счет неосновных носителей заряда.  [27]

28 Зависимость коэффициен - реходами электронов на локальные та шума транзистора or частоты. центры захвата и их освобождением. Эли центры могут быть расположены как в объеме, так и на поверхности полупроводника. Время нахождения электронов на эгих центрах может колебаться от долей миллисекунд ( быстрые состояния до нескольких секунд ( медленные состояния. Уровень низкочастотных шумов существенно зависит от природы материала, характера его обработки и состояния поверхности. Зависимость коэффициента шума транзистора от частоты приведена на. [28]

Следует заметить, что существуют еще так называемые шумы утечек, связанные с наличием на поверхности р-п переходов шунтирую щих токов, обусловленных загрязнениями поверхности или инверсными слоями. Эти шумы должны быть сведены к минимуму при изготовлении транзисторов.  [29]

30 Вольтамперная характеристика туннельного диода. [30]



Страницы:      1    2    3    4