Контролируемая поверхность - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Ценный совет: НИКОГДА не разворачивайте подарок сразу, а дождитесь ухода гостей. Если развернете его при гостях, то никому из присутствующих его уже не подаришь... Законы Мерфи (еще...)

Контролируемая поверхность

Cтраница 2


Ьсли контролируемая поверхность свободна от гидрофобных веществ, то высыхающая водная пленка распределяется тонким равномерным слоем и покрывает всю эту поверхность. На пленке не наблюдается никаких разрывов до тех пор, пока она не станет настолько тонкой, что испарение вызовет появление сухих участков. Па поверхности, загрязненной гидрофобным веществом, пленка стремится разорваться и стянуться к смоченным участкам. Чем меньше загрязнений, тем больше требуется времени для разрыва пленки па загрязненных участках. Минимальное количество обнаруживаемых этим методом загрязнений составляет 1 10 - 7 - 9 - Ш 6 г / ел. Метод распыления состоит в обработке контролируемой поверхности деминерализованной водой из распылителя.  [16]

17 Мнимые дефекты в виде осаждения порошка. [17]

Если контролируемая поверхность недостаточно чиста, например закорродиро-вана, то ее зачищают мелким наждачным полотном. При этом не только удаляются продукты коррозии, но и округляются края риски. Поэтому при повторном нанесении суспензии после зачистки порошок над ней обычно не осаждается.  [18]

19 Распределение нормальной Нн и.| Схема движения частиц порошка в. [19]

Если контролируемая поверхность расположена под утлом к горизонтальной плоскости, то возникают дополнительные трудности в выявлении дефектов вследствие стекания суспензии и удаления из зон контроля магнитного порошка. Последнее явление объясняется следующим образом.  [20]

Если контролируемая поверхность имеет отклонения от прямолинейности, то при перемещении вдоль нее микроскопа перекрестие штриховой пластинки будет смещаться относительно изображения струны на величину Дй. Совмещая перекрестие штриховой пластинки окулярного микрометра с изображением струны, определяют отклонения от прямолинейности в различных точках по длине.  [21]

Если контролируемая поверхность отличается по форме от эталонной, то на экране образуются интерференционные полосы, характеризующие значение отклонения ЛЯ.  [22]

Если контролируемые поверхности имеют сложную конфигурацию или число точек контроля превышает несколько десятков, используют многокоординатные контрольно-измерительные машины, управляемые от ЭВМ.  [23]

24 Схема ультразвукового контроля сварного стыкового шва. [24]

Поэтому контролируемая поверхность сварного соединения должна быть ровной, очищенной от брызг металлаГ ч: рязи и окалины и покрытой слоем жидкой контактирующей среды ( например, машинным маслом), которая обеспечивает контакт с поверхностью обследуемого материала. Обычно используют раздельно-совмещенные преобразователи. Возможна также иная схема: один преобразователь является источником колебаний, а другой - приемником. Однако она в ряде случаев неприменима, поскольку не всегда возможен доступ ко всем поверхностям.  [25]

26 Схема-ультразвукового контроля сварного стыкового шва. [26]

Поэтому контролируемая поверхность сварного соединения должна быть ровной, очищенной от брызг металла, грязи и окалины и покрытой слоем жидкой контактирующей среды ( например, машинным маслом), которая обеспечивает контакт с поверхностью обследуемого материала. Обычно используют раздельно-совмещенные преобразователи. Возможна также иная схема: один преобразователь является источником колебаний, а другой - приемником. Однако она в ряде случаев неприменима, поскольку не всегда возможен доступ ко всем поверхностям.  [27]

28 Изменение тангенциальной поперечной составляющей магнитного поля по длине дефекта ( а 45. А / 2 10.| Схемы контроля путем прямого преобразования ( а и дифференцированным методом ( б. [28]

Обследование контролируемой поверхности проводится вручную, установкой преобразователя в нитку резьбы или во впадину между зубьями и постепенным перемещением его вдоль образующей резьбы или зуба. За один проход контролируется вся поверхность впадины резьбы или зуба, ограниченная линиями, образуемыми точками касания токопроводящих электродов преобразователя.  [29]

Осмотр контролируемой поверхности проводят визуально. Могут применяться лупы 4 - 10-кратного увеличения, а также другие оптические устройства.  [30]



Страницы:      1    2    3    4    5