Контролируемая поверхность
Cтраница 3
Шероховатость контролируемой поверхности должна быть не более RL 20 мкм. [31]
Осмотр контролируемой поверхности проводят визуально. [32]
Шероховатость контролируемой поверхности должна быть не более RL 20 мкм. [33]
С контролируемой поверхности удаляют остатки сварочного шлака и металлических брызг. [34]
 |
Схема проверки твердости алмазной четырехгранной пирамидой. [35] |
На контролируемой поверхности не должно быть вздутий или отслаивания покрытия. [36]
 |
Изменение тангенциальной поперечной составляющей магнитного поля по длине дефекта ( а 45. А / 2 10.| Схемы контроля путем прямого преобразования ( а и дифференцированным методом ( б. [37] |
Обследование контролируемой поверхности проводится вручную, установкой преобразователя в нитку резьбы или во впадину между зубьями и постепенным перемещением его вдоль образующей резьбы или зуба. За один проход контролируется вся поверхность впадины резьбы или зуба, ограниченная линиями, образуемыми точками касания токопроводящих электродов преобразователя. [38]
Форма контролируемой поверхности плоская, цилиндрическая или сферическая с минимальным радиусом кривизны 8 - 10 мм. [39]
 |
Расположение гокоподводящих электродов на контролируемой поверхности. [40] |
Обследование контролируемой поверхности проводится вручную, установкой преобразователя в нитку резьбы или во впадину между зубьями и постепенным перемещением его вдоль образующей резьбы или зуба. [41]
На контролируемой поверхности следует измерить от 5 до 10 fpacc и подсчитать среднее арифметическое значение величин Нск. [42]
Неплоскостность контролируемой поверхности относительно эталонной измеряется величиной искривления полос равной толщины, локализованных на контролируемой поверхности. [43]
На контролируемой поверхности детали оптическая система прибора образует интерференционные полосы. Из-за неровностей поверхности интерференционные полосы искривляются соответственно профилю микронеровностей на рассматриваемом участке. Изображение поверхности вместе с интерференционными полосами рассматривается через окуляр и измеряется окулярным микрометром. [44]
 |
Двойной микроскоп. [45] |
Страницы: 1 2 3 4 5