Поле - дефект - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Для нас нет непреодолимых трудностей, есть только трудности, которые нам лень преодолевать. Законы Мерфи (еще...)

Поле - дефект

Cтраница 3


Аналитически описан процесс записи поля дефекта на магнитную ленту, что позволяет учесть магнитную предысторию ленты. Показано, что вектор остаточной намагниченности, обусловленный полем дефекта, лежит в плоскости магнитной ленты и зависит от протяженности магнитного отпечатка; проведена качественная оценка чувствительности метода магнитографической дефектоскопии при различных способах записи - из нулевого состояния, на поляризованную ленту, с подмагничиванием переменным полем и при термомагнитной записи.  [31]

32 Импульсное намагничивание ферромагнетика.| Зависимость магнитного контраста записи поля дефекта от числа и энергии намагничивающих импульсов. / - для конденсаторной батареи емкостью 630 мкФ ( 600 В. 2 - то же емкостью 325 мкФ ( 600 В. 3 - то же емкостью 650 мкФ ( 300 В. [32]

Характерные данные о зависимости поля дефекта от числа и энергии намагничивающих импульсов приведены на рис. 3.7. Исследовалась труба диаметром 108 мм с толщиной стенки 8 мм.  [33]

34 Схемы расположения векторов намагничивающего поля с учетом коэффициента размагничивания Яр относительно направлений трещин. [34]

Составляющая Я2 на формирование поля дефекта оказывает незначительное влияние. Поле рассеяния формируется под действием составляющей HI, поэтому для обеспечения высокой чувствительности контроля при уменьшении угла а необходимо сохранить заданное значение составляющей Н путем увеличения намагничивающего поля Нр. При этом вектор Яр равен заданному значению Н, умноженному на sin a. Однако при магнитопорошко-вом контроле следует иметь в виду, что при Яр 150 А / см необходимо уменьшать концентрацию порошка в суспензии для предотвращения интенсивной магнитной коагуляции.  [35]

36 Изображение дефекта в аустенитном сварном шве диаметром 325 х 16 мм. [36]

В этом режиме детально регистрируется поле дефекта с очень малым ( порядка 0 12 мм) шагом. Затем уже в лабораторных условиях эти данные обрабатываются и анализируются экспертом.  [37]

Магнитографическая дефектоскопия основана на воздействии поля дефекта на магнитную ленту, поэтому детальное изучение магнитного поля над дефектом, установление связей его параметров с магнитным состоянием исследуемого изделия и нахождение оптимальных условий для работы магнитной ленты являются главными вопросами магнитографической дефектоскопии.  [38]

Ни и мало изменяет величину поля дефекта.  [39]

Изложена физика процесса магнитной записи поля дефекта на магнитную ленту в зоне стыкового сварного соединения. С введением допустимых требований к форме сварного шва и заданием определенным законом распределения намагниченности вдоль сечения шва путем интегрирования уравнения Пуассона в первом приближении решена задача по определению магнитного поля, намагничивающего ленту в зоне сварного соединения.  [40]

Рассмотрим теперь частные случаи выявления поля дефекта. Для очень тонких слоев L0 для любых углов падения а практически равно нулю. Следовательно, если пользоваться очень тонкими слоями, интерференционные полосы при любом направлении наблюдения находятся на поверхности воспроизводящего слоя. Это значительно упрощает процесс визуализации рельефа магнитной записи, однако связано с трудностью получения тонких слоев воспроизводящей жидкости. С уменьшением толщины слоя воспроизводящая жидкость теряет свойства смачивания поверхности магнитной жидкости.  [41]

Большой интерес представляет оптимизация процесса записи поля дефекта на ленту. Вначале эта задача была решена для определенных изделий опытным путем. Хусанов [17], а затем Л. А. Кашуба [56] дали графоаналитическое объяснение процесса записи поля дефекта. В 1967 г. предложен весьма простой метод вебер-амперных характеристик [57], позволяющий учитывать селективные свойства лент. При этом показано [10, 58], что из-за высокой селективности магнитных лент оптимальные режимы записи поля дефекта на ленту можно находить или экспериментированием с бесконечным числом различных лент, что трудно осуществить на практике, или методом расчета.  [42]

43 Изменение магнит-нон индукции в зависимости от ширины образца. /, / /. / / / - сечения образца.| Характер изменения контраста записи поля дефекта в зависимости от намагничивающего поля.| Зависимость величины поля дефекта от расстояния между локальными дефектами разных размеров Лд. [43]

Эти данные подтверждают, что величина поля дефекта, обусловленного локальной полостью, всегда меньше величины поля, обусловленного протяженным дефектом, и что уравнять эти поля изменением режима намагничивания невозможно.  [44]

При магнитографической дефектоскопии сварного соединения вектор поля дефекта направлен, как правило, вдоль ширины ленты. Воспроизведение магнитной записи также происходит поперек ленты.  [45]



Страницы:      1    2    3    4    5