Светлое поле
Cтраница 1
Светлое поле указывает на первую стадию окислительного износа, но определяющим интенсивность износа здесь является схватывание. С увеличением скорости скольжения процесс окисления интенсифицируется, пленки окислов утолщаются и меняется их окраска. При малых скоростях скольжения пленки окислов и продукты износа окрашены в красный цвет, с увеличением скорости скольжения они становятся бурыми и затем черными. По мере усиления процесса окисления, с повышением скорости скольжения, схватывание уменьшается, что отчетливо видно при уэн 0 305 и 0 52 м / сек. [1]
Метод светлого поля в проходящем свете позволяет получить равномерно освещенное поле в плоскости изображения. При этом свет из конденсора проходит через препарат и объектив. Изображение объекта становится видимым вследствие частичного поглощения и отклонения отдельными его элементами падающего на них света. Метод светлого поля в отраженном свете основан на освещении препарата сверху через объектив, который одновременно выполняет роль конденсора. При косом освещении в проходящем или отраженном свете при соответствующем диафрагмировании можно создать боковое освещение препарата, отчего изображение становится более контрастным. [2]
Метод светлого поля ( рис. 2.3 а) в отраженном свете осуществляется путем введения в световой поток пластинки с полупрозрачным покрытием ( пластинка Бека), или призмы, выполняющей роль зеркала. Такая пластинка или призма направляет часть светового пучка в объектив. Изображения частиц препарата, исследуемых таким методом, выглядят слабо светящимися телами на относительно светлом поле. [3]
Метод светлого поля в проходящем свете применяется при исследовании прозрачных препаратов, у которых различные участки неодинаково поглощают свет. К таким препаратам относятся и волокна. Поглощающие элементы структуры препарата частично поглощают и отклоняют падающий на них свет ( пунктирные линии), что и обусловливает возникновение изображения. [5]
Метод светлого поля в проходящем свете ( см. рис. 1 в ст. Микроскоп) наиб, распространен. Он используется для исследования прозрачных объектов с включенными в них абсорбирующими частицами и деталями. Пучок света, проходя через непоглощающие зоны препарата, дает равномерно освещенное поле. Контраст изображения микроструктуры объекта тем больше, чем большим поглощением в видимой области спектра обладает абсорбирующая частица. [6]
Метод светлого поля в отраженном свете применяют для наблюдения непрозрачных объектов, напр, шлифов металлов, сплавов, рудных минералов. Структура препарата видна вследствие различия отражательной способности его элементов. [7]
 |
Апертурно-частотная характеристика кинескопа.| Формирование растрового фоаа.| Зависимость контраста растрового фона от относительного смещения строк. [8] |
При воспооизведении ровного светлого поля перекрывающимися строками с кажущейся яркостью LQ и симметричным ее распределением поперек строк Wiy1) результирующая яркость на осях оказывается выше, чем между строками. [9]
При переходе от светлого поля к темному создается разница в соотношении освещения. [11]
При работе в светлом поле поляризатор 21 и анализатор 29 хранят в ящике для оптики. [12]
При наблюдении в светлом поле световые лучи попадают на микрошлиф через объектив, который собирает их на поверхности шлифа. Вследствие того, что при травлении поверхность микрошлифа становится неровной ( в результате неодинаковой тра-вимости разных фаз), отражение света от отдельных участков оказывается различным. Это позволяет обнаружить детал строения металла. [13]
Снимок сделан в светлом поле ( К. [14]
Снимпк сделан и светлом поле ( Дж. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5