Светлое поле

Cтраница 4

ПМФ ( рис. 44), позволяющий проводить исследования в светлом поле, методом фазового контраста и в поляризованном свете. Для фотографирования служит 35-миллиметровая фотокамера. Для фазового контраста применена схема с переносом выходного зрачка объектива, что позволяет получать как негативный, так и позитивный контрасты различной силы. [46]

Отсчет градусов читают по цифрам, находящимся против бис-сектора на светлом поле; число минут отсчитывают против треугольного указателя нониуса по минутной шкале, для чего число делений от нуля до указателя умножают на 2; число десятков секунд определяют по шкале нониуса от указателя до удлиненного штриха. [47]

Два типа электронно-микроскопического дифракционного контраста в изображении кристаллического объекта. [48]

Таким образом, распределение яркости в электронно-микроскопическом изображении объекта в светлом поле задается распределением интенсивности электронов, покидающих нижнюю поверхность объекта в направлении прямого пучка. [49]

Исследование в отраженном свете главным образом основано на наблюдении в светлом поле различия в отражательной способности компонентов объекта и различия свойств двуотражения. [50]

Оптическая шкала образцового динамометра ДОЖ. [51]

Теоретически освещенность среднего поля должна быть в два раза меньше освещенности верхнего светлого поля, однако в действительности среднее поле кажется незначительно затемненным. Это объясняется особенностью человеческого зрения, относительно более чувствительного к слабому освещению, чем к сильному. Уменьшение освещенности на 50 % воспринимается как небольшое, поэтому нижний предел измерения менее отчетлив, чем верхний. Кроме того, при циклическом нагружении уменьшается резкость границ между полями. [52]

Невооруженным глазом непровар обнаруживается в изломе по темной окраске на фоне светлого поля хорошо сплавленного металла. [53]

Виды отражения света. [54]

Способы применения светопольиого освещения приведены на рис. 1.465. Наблюдения структуры в светлом поле нашли широкое применение в металлографии. [55]

Микрофотография в проходящем свете части поверхности, растрескавшейся под влиянием напряжения при растяжении образца полиметилметакрилата ( Х200. [56]

Длину и другие размеры толщин можно определить с помощью микроскопа в светлом поле; определение же глубины трещин и их влияния на топографию поверхности требует применения других методов. [57]

Схема вакуумной системы установки ВМД-1. [58]

Оптическая система установок ВМС-1 и ВМД-1 обеспечивает возможность наблюдения образца в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [59]

Для выявления неметаллических включений исследование ведут в поляризованном свете, в светлом поле, дополнительно вводя поляризатор и анализатор. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5