Светлое поле

Cтраница 2

Способы получения темнопольного изображения. а - путем наклона осветительной системы. б - путем смещения апертурной диафрагмы. [16]

При обычном исследовании в светлом поле также будут наблюдаться отражения от кристаллографических плоскостей конечно, если будет выполняться условие Вульфа - Брегга. Отраженные лучи будут поглощены апертурной диафрагмой и соот - ветствующие участки на изображении будут казаться более темными. [17]

Различают исследования структуры в темном и светлом поле. [18]

Описанный метод освещения называется методом светлого поля. Он применяется при наблюдении контрастных препаратов с различной абсорбцией элементов структуры. Такие препараты освещают прямым проходящим светом. В этом случае пучок лучей из конденсора заполняет большую часть апертуры объектива и, в отсутствие препарата, равномерно освещает поле зрения. [19]

Величина fcjvs равна отношению яркости светлого поля изображения к яркости смежного темного поля оригинального объекта, снятого на пленку. При этом светлое поле оригинального объекта диффузно отражает свет и имеет в 200 или более раз высокую яркость, чем темное поле этого же объекта. [20]

Микроскоп позволяет изучать объекты в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и методом фазового контраста. Источником света служит лампа накаливания мощностью 170 вт. Фотографирование может производиться как на фотопластинки, так и на фотопленку. [21]

При когерентном освещении контраст изображения границы светлого поля не выражается в виде функции от того же интеграла, что и контраст изображения темной линии. [22]

Металлографический микроскоп ПМФ фирмы Олимпус. [23]

Он предназначен для исследовательских работ в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и методом фазового контраста. Осветитель /, собственно микроскоп 2 и фотокамера 3 смонтированы на оптической скамье 4, установленной при помощи амортизаторов на специальном столе. Фотокамера переменной длины позволяет изменять масштаб изображения в больших пределах при одном и том же объективе и окуляре. Фазово-контрастное устройство ( с переносом выходного зрачка объектива) имеет собственный визуальный тубус. [24]

При рассмотрении полированных металлических поверхностей в светлом поле пучок света встречается с поверхностью образца под прямым углом, отражается от нее и попадает через окуляр в глаз наблюдателя. Детали на этой поверхности можно различить лишь в том случае, когда они изменяют световые лучи при отражении таким образом, что в отличие от нормальной ( гладкой) поверхности возникают различия в яркости ( светло-темно) или в цвете. Структурные составляющие на полированных поверхностях не различаются. [25]

При просвечивании модели в круговом полярископе с темным и светлым полем получаются два семейства полос. [26]

Исследование структуры в поляризованном свете ведут в светлом поле, следовательно порядок настройки освещения такой же, как при работе в светлом поле. [27]

Она должна быть включена при работе в светлом поле и обязательно выключена при переходе к темному полю. Это позволяет уменьшить рассеянный свет в поле зрения. Лампа осветителя питается от сети переменного тока с напряжением 127 / 220 в через понижающий трансформатор, входящий в комплект. [28]

Изучение препарата при рассмотренном способе освещения называется методом светлого поля в проходящем свете. При реализации данного метода необходимо обеспечить достаточно строгую соосность оптических осей объектива и осветительной системы. Этот метод применяют для исследования прозрачных препаратов с элементами, по разному поглощающими свет. [29]

Тележка-грузоподъемник с тремя двигателями. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5