Положение - спектральная линия
Cтраница 2
 |
Принципиальная оптическая схема призменного спектрального. [16] |
Энергия кванта E hcv определяет положение спектральной линии на шкале электромагнитных колебаний, а число квантов - ее интенсивность. [17]
Известно, что ширина и положение спектральной линии несколько зависят от условий разряда. Поэтому при измерениях длин волн нормалей необходимо строго стандартизировать условия возбуждения спектра. [18]
Таким образом, явление изменения положения спектральных линий в спектрах ВРМБ-рассеяния может быть использовано для создания распределенных волоконно-оптических датчиков температуры и механического напряжения. [19]
В спектральных приборах с дифракционными решетками положение спектральных линий на плоскости наблюдения дается условием максимумов ( стр. Водном и том же порядке спектра m положение спектральной линии однозначно определяется ее длиной волны X, и линии с разными X пространственно разделены. [20]
Рентгеновские спектры всех элементов подобны; положение спектральных линий меняется непрерывно от элемента к элементу с возрастанием атомного номера. [21]
Для других мессбауэровских изотопов подобная стандартизация положений спектральных линий пока не проведена. [22]
Это утверждение составляет комбинационный принцип Ритца: положение любой спектральной линии ( для любого атома) может быть выражено как разность двух термов. [23]
Параметры, полностью характеризующие спектр, следующие: положение спектральных линий, структура мультиплетов и относительные интенсивности резонансных линий. [24]
Таким - образом, квантованноеть энергий электронных переходов определяет положение спектральных линий. [25]
Изменение температуры прибора приводит, вообще говоря, к изменению положения спектральных линий и смещению фокальной поверхности. Если такие изменения происходят в процессе регистрации спектра, то это часто приводит к упшрению инструментального контура, тем более значительному, чем больше изменение Р р температуры за время опыта. [26]
 |
Уширение спектральной пинии при смещении фокальной поверхности. [27] |
Изменение температуры прибора приводит, вообще говоря, к изменению положения спектральных линий и смещению фокальной поверхности. Если такие изменения происходят в процессе регистрации спектра, то это часто приводит к уширению инструментального контура, тем более значительному, чем больше изменение температуры за время опыта. [28]
 |
Влияние само поглощения на npoi suib спектральной линии в отсутствие ( 1 и в случае (., 3 резонансного поглощения. [29] |
Работая на спектрографе, спектр пробы фотогравируют на фотопластинку и исследуют положение спектральных линий на ней или измеряют степень почернения изображений этих линий для количественного определения элементов. [30]
Страницы: 1 2 3 4