Положение - спектральная линия
Cтраница 3
В настоящем параграфе будет рассмотрено распределение вероятностей различных состояний ионов и положение спектральных линий. Вычислению профиля линий посвящен следующий параграф. [31]
Выражения (2.4) и ( 2.4 а) позволяют легко определить изменение положения спектральных линий вдоль поверхности спектра. [32]
Для оценки допустимых температурных изменений проанализируем, каким образом влияет температура на положение спектральных линий. [33]
Взаимодействие ионов Ln3 с фононами решетки может проявляться в температурной зависимости ширины и положения спектральных линий, а также в изменении вероятностей излучательных и безызлучательных переходов. [34]
Для оценки допустимых темпе - Дх ратурных изменений проанализируем, каким образом влияет температура на положение спектральных линий. [35]
Очень быстро можно расшифровать неизвестный спектр с помощью атласа железного спектра, на котором отмечено положение спектральных линий других элементов. [36]
 |
Изотопическая структура спектральных линий. [37] |
Иногда, в тех случаях, когда собственно изотопическое смещение столь мало, что не может быть наблюдено, различие в положении спектральных линий, принадлежащих разным изотопам, все же может быть обнаружено. Это связано с тем, что сверхтонкое расщепление спектральных линий различно для разных изотопов, поскольку а) их ядерные моменты различны. Величина сверхтонкого расщепления спектральных линий также, как и изотопического смещения, не превышает обычно десятых долей ангстрема. Наблюдаемая структура спектраль - ных линий представляет собой наложение того и другого типа расщеплений. [38]
В Советском Союзе наиболее широко распространено справочное издание Зайделя [2], в котором приведены таблицы спектральных линий, содержащие полную информацию о положении спектральных линий и их относительных интен-сивностях для атомов и ионов практически всех элементов периодической системы. Отметим, что данные таблицы составлены по спектрам, возникающим при использовании для их возбуждения дугового или искрового разряда. Использование иных источников возбуждения может привести к появлению других линий и к другому соотношению интенсивностей. [39]
Калибровка приводится на барабане ( барабан длин волн), связанном с устройством, поворачивающим диспергирующий элемент вокруг своей оси и изменяющим тем самым положение спектральных линий различных длин волн на фокальной плоскости. [40]
При наложении магнитного поля в направлении, параллельном вектору напряженности, наблюдаются две линии поглощения, сдвинутые в сторону больших и меньших частот симметрично по обе стороны относительно положения первоначальной спектральной линии на величину Av. Величина сдвига определяется соотношением Лоренца (22.8), как и в случае нормального эффекта Зеемана, причем Av растет пропорционально напряженности магнитного поля Я. Интенсивность поглощения зависит от характера поляризации падающего света. [41]
Ученый, используя метод спектрального анализа, исследовал окись дидима, выделенную из самарскита; он сравнил полученный спектр со спектром того же вещества, но извлеченного из гадолинита, и обнаружил различия в лнтенсивностях и положении спектральных линий. Так получило подтверждение высказанное Мариньяком еще в 1853 г. предположение о неоднородности старых препаратов дидима. Это был своеобразный намек на то, что ученым еще немало придется повозиться с дидимом. [42]
Для получения спектра испускания вещество наносят в виде порошка на антикатод рентгеновской трубки и полученное излучение разлагают при помощи спектрографа в спектр. Положение появляющихся спектральных линий на шкале длин волн является характерным для данного элемента. [43]
Газосветная лампа представляет собой электрическую разрядную трубку, наполненную тем или иным газом или парами какого-либо металла. Интенсивность и положение спектральных линий в характерном излучении атомов меняются от одного химического элемента к другому. Даже у одного элемента интенсивности отдельных линий меняются в зависимости от условий свечения. Поэтому задача получения высокоэкономичных источников света сводится к выбору таких элементов, излучение которых при, определенных условиях максимально сосредоточено в видимом спектре. [44]
Эта часть работы производится на спектрографе ИСП-28 ( ИСП-22) или ИСП-51 с камерой УФ-84. Для измерения положения спектральных линий используется измерительный микроскоп МИР-12 или компаратор ИЗА-2. Одной из основных количественных характеристик спектрального прибора является его угловая дисперсия и однозначно связанная с ней линейная дисперсия. [45]
Страницы: 1 2 3 4