Положение - резонансная линия - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Когда-то я был молод и красив, теперь - только красив. Законы Мерфи (еще...)

Положение - резонансная линия

Cтраница 1


1 Схема трансформации одно-компонентного ( а и двухкомпонент-ного ( б спектров ЯМР при наличии обмена. [1]

Положение резонансной линии имеет большое значение, так как оно частично определяется электронной структурой вещества. Резонансная частота ядра, находящегося в магнитном поле, при отсутствии всех взаимодействий как между ядрами, так п между ядрами и электронами представляет собой свойство, присущее самому атомному ядру. Именно наличие взаимодействий с другими ядрами и электронами приводит к той частоте, которая наблюдается в опыте и вызывает изменение формы резонансной линии: вместо бесконечно узкой линии появляется характерная структура резонанса, его форма и ширина.  [2]

3 Сдвиг отдачи при испускании и поглощении у-квантов. [3]

Число и положение резонансных линий в спектре определяется взаимодействиями атомных ядер с электрическими и магнитными полями, имеющимися в местоположении ядра. В зависимости от химического окружения ядра-поглотителя между линиями источника ( стандартного вещества) и ядра наблюдается изомерный сдвиг 5 ( рис. 3.113); для осуществления резонанса надо сообщить источнику скорость v по отношению к поглотителю.  [4]

Для определения положения резонансной линии введено понятие химического сдвига этой линии относительно линии эталонного вещества. За эталонное вещество обычно берется тетраметилсилан [ ( CH3) 4Si ] ( ТМС), химический сдвиг 12 эквивалентных протонов которого принят равным нулю ( в шкале 6), поскольку резонансные сигналы большинства органических соединений расположены в более слабых полях.  [5]

Для определения положения резонансной линии введено понятие химического сдвига этой линии относительно линии эталонного вещества. За эталонное вещество в настоящее время берется тетраметилсилан l ( CH3) 4SiJ ( TMC), химический сдвиг 12 эквивалентных протонов которого принят равным нулю ( в шкале б), поскольку резонансные сигналы большинства органических соединений расположены в более слабых полях.  [6]

При постоянной частоте положение резонансных линий в первом приближении не зависит от диаметра образца, изменявшегося в пределах от 0 65 до 1 33 мм. С уменьшением диаметра сферы величина поглощения для всех линий, кроме линий С, уменьшается значительно быстрее, чем объем образца. При больших размерах сферы наблюдаются дополнительные резонансные линии, интенсивность которых в еще большей степени зависит от размеров образца. В диапазоне частот от 8100 до 10000 мггц, обеспечиваемом стандартной аппаратурой, относительное положение линий очень мало зависит от частоты; расстояния между ними изменяются лишь на несколько эрстед. Вблизи 34 000 мггц расстояние между линиями В и D сильно зависит от частоты, тогда как относительное расположение линий А, С и Е примерно сохраняется.  [7]

При 7 26 мггц отмечено положение резонансной линии протонного резонанса воды.  [8]

В предыдущем разделе мы рассмотрели взаимодействия, определяющие положение резонансных линий в спектре ЯМР. В реальном спектре не наблюдаются идеально узкие линии: резонансные линии характеризуются конечной шириной. Продольная релаксация также оказывает влияние на спектр ЯМР, в основном на интенсивность резонансных линий.  [9]

Использование PdaSn весьма удобно для оценки формы и положения резонансных линий.  [10]

В предыдущем разделе мы рассмотрели взаимодействия, определяющие положение резонансных линий в спектре ЯМР. В реальном спектре не наблюдаются идеально узкие линии: резонансные линии характеризуются конечной шириной. Продольная релаксация также оказывает влияние на спектр ЯМР, в основном на интенсивность резонансных линий.  [11]

В предыдущем разделе мы рассмотрели взаимодействия, определяющие положение резонансных линий в спектре ЯМР. В реальном спектре не наблюдаются идеально узкие линии: резонансные линии характеризуются конечной шириной. Продольная релаксация также оказывает влияние на спектр ЯМР, в основном на интенсивность резонансных линий.  [12]

Ли), и Дсо3 - небольшие сдвиги положения резонансных линий для 1-го и 2-го спинов, обусловленные спин-решеточными взаимодействиями.  [13]

Таким образом, имеются две причины, искажающие форму и положение резонансной линии, - потери энергии у-кванта на отдачу R и доплеровское уширение линии D. Однако в кристалле, если энергия у-кванта будет восприниматься всей решеткой, то R мало и линия излучения ( поглощения) оказывается несмещенной. Кроме того, при малых значениях энергии отдачи пропадает и доплеровское уширение резонансной линии, поскольку переход от энергии отдачи отдельного ядра к энергии отдачи всего кристалла означает переход к таким условиям, когда доплеровская ширина линии D оказывается много меньше естественной ее ширины.  [14]

Заметный сдвиг центра тяжести резонансного пика арсе-пидного стекла по отношению к положению резонансной линии кристалла в сторону более положительных значений скорости может быть обусловлен возрастанием степени кова-лентности связи для стеклообразного состояния по сравнению с кристаллическим.  [15]



Страницы:      1    2    3