Положение - дифракционный максимум
Cтраница 1
Положение дифракционных максимумов зависит от длины волны А, поэтому рассмотренный вид дифракционная картина имеет лишь для монохроматического света. Таким образом, справа и слева от центрального максимума наблюдаются максимумы первого ( т1), второго ( т 2) и других порядков, обращенные фиолетовым краем к центру дифракционной картины. Однако они настолько расплывчаты, что отчетливого разделения различных длин волн с помощью дифракции на одной щели получить невозможно. [1]
Положение дифракционных максимумов зависит от длины волны Я, поэтому рассмотренная выше дифракционная картина имеет место лишь для монохроматического света. Боковые максимумы радужно окрашены, так как условие максимума при любых т различно для разных А. Таким образом, справа и слева от центрального максимума наблюдаются максимумы первого ( т 1), второго ( от2) и других порядков, обращенные фиолетовым краем к центру дифракционной картины. Однако они настолько расплывчаты, что отчетливого разделения различных длин волн с помощью дифракции на одной щели получить невозможно. [2]
Положение дифракционных максимумов и минимумов зависит от соотношения между длиной волны в кристалле Хкр и между атомными расстояниями, иными словами, дифракционная картина зависит от уп. Эта зависимость вполне может быть обнаружена на опыте. [3]
Положение дифракционных максимумов зависит от длины волны К, поэтому рассмотренный вид дифракционная картина имеет лишь для монохроматического света. Таким образом, справа и слева от центрального максимума наблюдаются максимумы первого ( т1), второго ( от 2) и других порядков, обращенные фиолетовым краем к центру дифракционной картины. Однако они настолько расплывчаты, что отчетливого разделения различных длин волн с помощью дифракции на одной щели получить невозможно. [4]
В этом случае положение дифракционных максимумов будет определяться условием равенства разности хода s dsinft ( d - постоянная плоской решетки, a ft - угол рассеяния) целому числу длин волн ( см. фиг. [5]
 |
Векторная диаграмма световых ко.| Построение для волны.. Каждая из этих волн соответствует одному из максимумов в дифракционной картине Фраунгофера. [6] |
Определяя на опыте положение дифракционных максимумов различного порядка, можно по формуле ( 5) найти длину Л ультразвуковой волны. [7]
 |
Схема опита по наблюдению дифракции света на акустической решетке. [8] |
Определяя на опыте положение дифракционных максимумов различного порядка, можно по формуле ( 8) найти длину Л ультразвуковой волны. [9]
Добавление третьего условия потребует дополнительных расчетов для определения положения дифракционных максимумов, так как при любом выборе а0, р0, fr направляющие косинусы а, ( 3, Y определяемые из уравнения ( 27), вообще говоря, не удовлетворяют уравнению а2 ( S2 т2 - Ь Последнее означает, что для получения дифракционного максимума должно быть установлено некоторое соотношение между направлением падающей волны и ее длиной. [10]
Если постоянная дифракционной решетки известна, то по положению дифракционных максимумов можно определить длину волны света. [11]
 |
Преобразование гауссова пучка идеальной тонкой линзой L. [12] |
Рассмотрим опять явление дифракции на щели по схеме, изображенной на рис. 9.2. Положение дифракционных максимумов и минимумов не будет зависеть от положения щели, ибо положение максимумов определяется направлением, по которому идет большая часть испытавшего дифракцию света. Поэтому при перемещении щели параллельно самой себе никаких изменений дифракционной картины не-должно наблюдаться. [13]
Колебания в химическом составе ( SiO2 / AI2O3 и соотношениях обменных катионов) в меньшей степени влияют на положения дифракционных максимумов, чем на их интенсивность, которая изменяется в заметных пределах. Изменения состава и степени кристалличности образцов оказывают влияние на ширину дифракционных линий и степень разрешенности соседних рефлексов. Так как в составе цеолитизирован-ных туфов кроме цеолитов содержатся другие минералы ( как правило, это кварц, монтмориллонит, полевые шпаты, кальцит), следует выбрать достаточно интенсивные и свободные от перекрывания рефлексы, необходимые для надежной идентификации. [14]
 |
Увеличенная часть псевдобинарного разреза кордиерит - Mg-берилл. [15] |
Страницы: 1 2 3