Cтраница 3
МО-устройства сканирования света ( дефлекто-р ы) предназначены для отклонения светового луча с высокой разрешающей способностью. Простейший дефлектор реализуется следующим образом. Поляризованный свет пропускают через ТМП с полосовой доменной структурой. Так как полосовая доменная структура является для света дифракционной решеткой, то, изменяя внешнее поле управления в плоскости пленки, можно изменять период решетки, а следовательно, и положение дифракционных максимумов. [31]