Положение - дифракционный максимум
Cтраница 2
Рассматриваемые факты были установлены путем изучения характера кристаллических фаз, сопутствующих кордиериту в этих образцах, а также по заметному смещению положений дифракционных максимумов на рентгенограммах кор-диеритов, полученных в низкотемпературной области. [16]
 |
Построение оси зоны ( а и гномостереографической проекции отражающей плоскости ( б с помощью сетки Леонгардта. [17] |
Аналогично сетке Грейнингера может быть построена сетка Леонгардта, пригодная для графического определения полярных координат нормалей к отражающим плоскостям ф и р из положения дифракционных максимумов с теми же индексами. [18]
Расстояние между плоскостями решетки d определяется путем ориентации кристалла в спектрометре. Следовательно, положение дифракционного максимума зависит от длины волны рентгеновского луча, падающего на кристалл, а длина волны рентгеновского характеристичного излучения от порядкового номера элемента: уменьшается с увеличением атомного номера. Для регистрирования дифракционного максимума, по положению и интенсивности которого можно судить о типе и количестве данного элемента в пробе, в рентгеноспектрометре применяют счетчик Гейгера-Мюллера или сцинтилляционный счетчик с последующим подключением усилителя и самописца. [19]
Размытая рентгенограмма дает довольно ограниченные сведения об аморфном веществе. Почти для всех полимеров положения дифракционных максимумов настолько совпадают, что, принимая во внимание малую точность определения значений 26 по размытым дифракционным максимумам, в данном случае невозможно так классифицировать рентгенограммы, как это было сделано для большинства хорошо кристаллизующихся веществ. Конечно, два вещества различны, если различны их рентгенограммы. Например, полиметилметакрилат и полистирол имеют настолько разные рентгенограммы, что по ним можно отличить эти два вещества друг от друга, даже несмотря на размытость рентгенограмм. Если же рентгенограммы двух полимеров сходны, то из этого факта нельзя сделать никакого заключения, так как слишком часто различным аморфным полимерам соответствуют одинаковые рентгенограммы. [20]
Если на дифракционную решетку падает белый свет, волны каждого цвета, входящего в его состав, образуют свои дифракционные максимумы. Из формулы (18.4) следует, что положение дифракционного максимума зависит от длины световой волны. Следовательно, на экране справа и слева от центрального максимума наблюдают цветные дифракционные спектры разного порядка. [21]
Действительно, внутренний потенциал е мы можем найти другим, совершенно независимым способом, а именно с помощью опытов по дифракции медленных электронов. Когда на кристаллическую решетку падают катодные лучи, на решетке, как - мы знаем, происходит дифракция электронов, причем положение дифракционных максимумов зависит от длины волны де - Бройля X - / i / p для электрона. Однако, проникая в кристалл, катодный луч испытывает преломление на поверхности, так как кинетическая энергия электронов в твердом теле больше, а поэтому длина их волны меньше, чем вне тела. Здесь, как и в оптике, мы можем говорить о коэффициенте преломления кристалла по отношению к электронам; как и в оптическом случае, этот коэффициент равен отношению длин волн внутри и вне кристалла. [22]
Определив из эксперимента спектр значений di и подобрав совокупность ( Ян, H2i, H3i), отвечающую найденному спектру d, можно найти параметр элементарной ячейки а и тип решетки Бравэ. Это означает, что определенная информация о структуре кристалла может быть получена даже без измерений интенсивности рассеяния, а по одним лишь положениям дифракционных максимумов. [23]
Величины большого периода, вычисленные с помощью кривых интенсивности, приведены в таблице. Как видно из.рис. 1, интенсивность в максимуме растет при повышении температуры в цикле I. Поскольку при последующих циклах положение дифракционного максимума почти не меняется, для изучения изменения его интенсивности вместо съемки всей кривой по точкам счетчик был неподвижно установлен в точке максимума, а интенсивность непрерывно записывалась на диаграммную ленту ЭПП-09 при изменении температуры от 20 до 116 и обратно. Кривые, приведенные на рис. 3, непосредственно характеризуют изменение интенсивности в максимуме распределения малоуглового рассеяния. [25]
Равенство нулю одного или двух индексов Миллера означает, что плоскости параллельны одной или двум кристаллографич. Миллера соответствуют плоскостям, пересекающим оси координат в отрицат. При дифракции рентгеновских лучей индексы h, k, I отражающей плоскости характеризуют одновременно положение дифракционного максимума ( рефлекса) в обратной решетке. [26]
Источник излучения необходимо отъюстировать так, чтобы он находился на прямой, соединяющей центры решетки и щели. Для установки источника обычно наблюдают визуально заполнение решетки, рассматривая ее через широко открытую выходную щель, расположенную в том месте, где фокусируется спектр нулевого порядка. Если щель не может быть раскрыта для наблюдения, то можно правильно установить источник, наблюдая положение дифракционных максимумов. Источник должен быть расположен так, чтобы центральный максимум симметрично покрывал решетку. Это легко сделать, перемещая источник и следя за положением дифракционной картины. [27]
Установлено, что параметры элементарной ячейки клиноптилолита из различных месторождений несколько отличны. Результаты рентгенографического изучения показывают, что особенности клиноптилолита из различных месторождений в меньшей степени влияют на положение дифракционных максимумов, чем на их интенсивность. [28]
Приведенные результаты подчеркивают значение изотермической кристаллизации. Для такого сравнительно быстро кристаллизующегося полимера, как полиэтилен, возникают, однако, определенные технические трудности во время проведения изотермической кристаллизации при охлаждении расплава до достаточно низких температур. При этом, как видно из табл. 15, возможно сильное проявление влияния толщины образца на положение дифракционного максимума. [29]
В системе кадмий - - олово исследовано электронографически пять сплавов с содержанием кадмия от 15 до 60 ат. Сплавы с большим содержанием кадмия не удалось исследовать, так как при температуре эксперимента 230 кадмий испаряется и состав сплава сильно изменяется во время нагрева. На примере этой системы рассмотрим подробно анализ экспериментальных данных. В табл. 1 указаны положения дифракционных максимумов на кривых интенсивности рассеяния электронов. [30]
Страницы: 1 2 3