Получение - дифракционная картина
Cтраница 2
Принципиально этот способ ничем не отличается от метода получения дифракционной картины в электронографе. [16]
Закон Вульфа-Брэгга является необходимым, но недостаточным условием для получения дифракционной картины. Возможность наблюдения дифракционных рефлексов зависит от атомного фактора рассеяния ( форм-фактора) и геометрического структурного фактора, определяющих интенсивность рассеяния. Атомный фактор рассеяния зависит как от числа электронов в атоме, так и от их пространственного распределения. Он равнялся бы порядковому номеру z, если бы все электроны атома были сосредоточены в одной точке. Взаимодействие рентгеновских квантов с полем электронов атома рассеяние) зависит от отношения длины волны фотона А, к размеру атома. Геометрический структурный фактор определяется величинами атомных форм-факторов тех элементов, из которых состоит кристалл, а также координатами отдельных атомов в элементарной ячейке. [17]
Прежде чем переходить к детальному разбору указанных методов, рассмотрим принципы получения дифракционной картины в них. [18]
На рис. 2.1.3 представлена схема рентгеновского дифрактомет-ра типа ДРОН, предназначенного для получения дифракционной картины в автоматическом режиме с записью дифрактограмм на ленту самописца. [19]
Получение дифракционной картины, соответствующей микроскопическому участку объекта-электронная микродифракция - является одним из самых важных средств структурного анализа материалов. [20]
 |
Сравнение оптических схем обычного ( а и растрового ( б просвечивающих микроскопов ( Г. Томас. [21] |
Таким образом, природа контраста остается той же, что и в обычной просвечивающей микроскопии. Для получения дифракционной картины зонд останавливается в заданной точке объекта и вместо детектора электронов вводится фотопластинка. [22]
Для получения полной дифракционной картины кристалл должен иметь две степени свободы угловых перемещений. [23]
В действительности вследствие трехмерности кристаллической решетки интерференция, описанная выше, имеет место только для определенной длины волны и определенного угла падения по отношению к системе плоскостей, образуемых центрами рассеяния. Поэтому для получения полной дифракционной картины от монокристалла его необходимо вращать во время экспозиции. В случае одно - или двумерной решеток всегда имеется угол, при котором происходит усиление рассеянных волн, если только длина волны достаточно мала. [24]
Другой способ наблюдения дифракции и интерференции рентгеновских волн основан на предложении Лауэ ( 1913) - воспользоваться кристаллическими решетками, в которых атомы и молекулы, упорядочение расположенные ( с определенными интервалами) вдоль линий и на плоскостях, могли бы играть роль периодических неоднородно-стей. Схема опыта, подтвердившего возможность получения дифракционной картины от кристаллов, показана на рис. IV.85, а, где К - рентгеновская трубка; 5 - отверстие, через которое узкий пучок рентгеновского излучения проникает в свинцовый ящик Р и падает на кристаллическую пластинку К, поставленную строго перпендикулярно лучам; Р - фотографическая пластинка. Центральное темное пятно образуется неотклоненными лучами. Каждое маленькое пятнышко вокруг центрального есть результат интерференции ( взаимного усиления) рентгеновских лучей, отклоненных атомами решетки; расположение этих пятен на экране оказалось различным у различных веществ. [25]
Отсюда непосредственно вытекают два важных следствия. Первое состоит в том, что для получения дифракционной картины Фра-унгофера от объекта можно использовать световые или электронные линзы, расположенные в соответствующих местах и в соответствующем масштабе в зависимости от их фокусных расстояний. Второе следствие состоит в том, что ограничения, накладываемые системой линз при воспроизведении функции прохождения объекта на плоскости изображения, можно описать с помощью модификации распределения амплитуды и фазы на задней фокальной плоскости. [26]
Расчет преобразования Фурье от группы атомов аналогичен получению дифракционной картины, возникающей от системы отверстий, однако получение таких картин не заменяет всех преобразований Фурье полностью. Для того чтобы подчеркнуть разницу между преобразованием Фурье и получением дифракционной картины оптическим методом, последний называют оптическим преобразованием. [27]
Возможность использовать оптическую дифракцию в дополнение к кристаллографическому структурному анализу [371 ] следует непосредственно из рассмотрений гл. В оптическом дифрактометре хорошо сколлимированный пучок света проходит сквозь образец; для получения дифракционной картины используется длиннофокусная линза, затем эта картина наблюдается через окуляр или фотографируется. [28]
Эти достижения стали возможными благодаря тому, что длина волны рентгеновских лучей очень мала - именно поэтому удалось увидеть молекулярные структуры. Увидеть, конечно, не в буквальном смысле; речь идет о получении дифракционной картины, с помощью которой после немалой затраты труда на ее расшифровку можно восстановить характер пространственного расположения атомов. [29]
 |
Устройство анода рентгеновской трубки. [30] |
Страницы: 1 2 3 4