Задерживающий потенциал

Cтраница 2

Метод разности задерживающих потенциалов Фокса, Хиккема, Кьелдааса и Гроува [675] исключает затруднения, связанные с энергией бомбардирующих электронов, и позволяет получать данные для положительных ионов без применения внутреннего стандарта, совпадающие со спектроскопическими величинами в пределах 0 1 эв. Применяя эту методику для исследования отрицательных ионов, можно ожидать получения аналогичной точности. [16]

Приемники с задерживающим потенциалом, так же как и обычные, имеют специальный электрод для подавления вторичной электронной эмиссии. Электрод, предназначенный для предотвращения вторичных явлений, обычно называют антидинатронным экраном. [17]

При некотором задерживающем потенциале фототок становится равным нулю. [18]

В опытах Джермера задерживающий потенциал был наложен на цилиндрический электрод, коаксиально окружающий вольфрамовую нить. [19]

По методу разности задерживающих потенциалов ( метод Фокса) с целью отсечь электроны со значениями энергии из нижней части кривой их распределения по энергиям применяют задерживающий потенциал. Этот метод в сочетании с лучшими способами обработки КЭИ дает хорошие результаты. [20]

Для измерения величины задерживающего потенциала U3 в работе применяется ламповый вольтметр ЛВ, входное сопротивление которого практически можно считать бесконечно большим. [21]

Кривые распределения эмитированных электронов по энергиям ( РЭЭ при постоянной энергии падающих квантов Ер. Е. Л1. - потенциал ионизации кристалла, отсчитанный от потолка валентной зоны. Эмитированные электроны могут иметь любую кинетическую энергию над уровнем вакуума Evac. Максимальная кинетическая энергия определяется законом Эйнштейна. Появление пика при Е ] определяется процессами внутреннего поглощения энергии при значении кинетической энергии электрона Е, -. vac. [22]

К 3 - минимальный задерживающий потенциал, полностью запирающий фотоэмиссионный ток. [23]

В статье описано использование задерживающего потенциала для монохромати-зации электронного пучка. [24]

Энергия фотоэлектронов определяется методом задерживающего потенциала. Если поверхность вещества, из которого вырываются электроны, является обкладкой конденсатора, то через цепь, в которую включен этот конденсатор, пойдет ток. [25]

Таким образом, величина задерживающего потенциала не зависит от интенсивности, а зависит только от частоты падающего света. [26]

В чем заключается метод задерживающего потенциала. [27]

Схема анализатора с тормозящим полем. [29]

Для повышения чувствительности метода задерживающего потенциала целесообразно использовать не первую, а вторую гармонику. Амплитуда второй гармоники Л2 как видно из выражения (2.12), пропорциональна производной функции энергетического распределения частиц. Вклад остальных членов, входящих в выражения (2.11) и (2.12) для Аги Л 2, определяется амплитудой модулирующего сигнала V0 и характером измеряемого энергетического распределения. [30]

Страницы: 1 2 3 4