Cтраница 4
При измерении энергии фотоэлектронов обычно пользуются методом задерживающего потенциала. Вблизи фотокатода располагается второй электрод ( анод), к которому прикладывается отрицательный по отношению к катоду потенциал V. Как уже было сказано, вылетевшие из фотокатода электроны имеют различные энергии. Те электроны, энергия которых удовлетворяет условию Е eV ( e - заряд электрона), не могут достичь анода. Поэтому при увеличении V анодный ток падает. [46]
В счетчике ионов предусмотрена возможность использования электрода задерживающего потенциала вместо антидинатрошюго электрода. Он устанавливается также в приемнике ионов и служит для некоторого повышения разрешающей способности масс-спектрометра, достигаемого задержкой рассеянных ионов, имеющих меньшую энергию, чем основной ионный пучок. Электрод задержки используется, кроме того, для приближенного измерения распределения по энергии ионов, приходящих на коллектор приемника. [47]
В счетчике ионов предусмотрена возможность использования электрода задерживающего потенциала вместо антидинатронного электрода. Он устанавливается также в приемнике ионов и служит для некоторого повышения разрешающей способности масс-спектрометра, достигаемого задержкой рассеянных ионов, имеющих меньшую энергию, чем основной ионный пучок. Электрод задержки используется, кроме того, для приближенного измерения распределения по энергии ионов, приходящих на коллектор приемника. [48]
В 1951 г. был разработан метод разностей задерживающих потенциалов ( метод РЗП) [1, 2], который позволил осуществлять ионизацию моноэнергетическими электронами. Было показано, например, что вероятность образования однозарядных ионов при энергии электронов, близкой к потенциалу ионизации, растет линейно с избытком энергии электронов над пороговой. [49]
В работе изучается зависимость фототока от величины задерживающего потенциала F0 для различных частот света со, лежащих г, видимой области спектра. [50]
Как видно из табл. 1, изменение задерживающего потенциала AFm много меньше изменения анодного напряжения AFa. Очевидно, что это позволяет вести более тонкую регулировку величины задерживающего потенциала, чем это возможно при помощи задерживающей диафрагмы. [51]
![]() |
Результаты расчетов для плоскостного диода электронной пушки. [52] |
Этого следует избегать, так как метод разностей задерживающих потенциалов основан на предположении, что задерживающий потенциал не влияет на распределение электронов. Следовательно, изменение анодного напряжения должно быть минимальным, достаточным лишь для обеспечения измеримой разности ионных токов. [53]
В данной работе для изучения этого распределения применяется метод задерживающего потенциала. [54]
Тот факт, что в нашем варианте метода разностей задерживающих потенциалов электроны задерживаются в области пространственного заряда, значительно удаленной от щелей, означает, что загрязнение поверхности щелей не представляет более проблемы. Вероятно, это позволяет увеличить время работы источника ионов. [55]
![]() |
А / для ионов изобутана при двух различных выталкивающих ионы напряжениях. О AT ( 13. 9 АГ ( - 1 2. [56] |
Изучение распределения ионов по энергиям чаще всего ведут методом задерживающего потенциала или методом дисперсии ионов по энергиям в секторном магнитном поле. Метод отклоняющего поля, впервые примененный Рисом и Хипплом [3] для качественного определения кинетических энергий ионов, до сих пор мало применялся. [57]
![]() |
Интегральные распределения энергий ионов в аммиаке ( кривые приведены к одному значению начального тока. / - в тлеющем разряде. 2 - в высокочастотном разряде. [58] |
Здесь i - ионный ток на вспомогательный электрод при задерживающем потенциале U; 1Полн - ионный ток при нулевом задерживающем потенциале, t / rp - потенциал, при котором ионный ток практически обращается в нуль; п - эмпирический коэффициент. [59]