Почернение - спектральная линия
Cтраница 1
 |
Характеристическая кривая фотопластинки. [1] |
Почернение спектральных линий измеряют на микрофотометре, а соответствующие им логарифмы пропускания каждой ступени берут из паспорта ступенчатого ослабителя. [2]
Почернение спектральных линий можно измерять микроденситометрами ( микрофотометрами), которые фактически измеряют пропускание. Пропускание ( прозрачность) определяется как отношение интенсивности прошедшего света к падающему. Прошедший свет при помощи вакуумного фотоэлемента или фотоэлемента с запирающим слоем преобразуется в электрическую энергию и регистрируется самописцем. [3]
Почернения спектральных линий измеряют на микрофотометре МФ-2 или МФ-4. Некоторые элементы ( V, Ni, Fe и др.) в золах нефтей присутствуют в больших концентрациях; определение больших концентраций элементов спектральным количественным анализом затруднено. [4]
Определим почернение спектральной линии, если при измерении интенсивности света, прошедшего через ее изображение на негативе, прибор, регистрирующий свет, показывает 220 делений, а показание того же прибора при измерении света, прошедшего через1 прозрачное место - 1000 делений. [5]
Сравнивая почернения спектральных линий железа в пробе с почернениями тех же линий в спектрах эталонов, определяют содержание железа в пробе. [6]
Величина почернения спектральной линии на негативе связана с интенсивностью сложным математическим уравнением. Поэтому эту зависимость лучше всего изображать графически ( рис. 20) в виде характеристической кривой почернения фотопластинки. [7]
 |
Двойной монохроматор с решеткой GDM 1000 с приемником, приставным самописцем и четырехгранным рельсом ( Karl Zeiss, ГДР а - оптико-механическая схема. б - внешний вид. [8] |
Степень почернения спектральных линий измеряют с помощью микрофотометров. [9]
Так как почернение спектральных линий, отвечающих покрытию, с увеличением толщины последнего возрастает, а почернение линии основы уменьшается, то кривые Д5 - lg d характеризуются крутым наклоном, что обусловливает довольно высокую степень точности определения толщины покрытия. [10]
 |
К соотношению между шириной щели микрофотометра и шириной спектральной линии. [11] |
При измерении почернения спектральных линий на нерегистрирующем микрофотометре поступают следующим образом. От руки подводят столик так, чтобы измеряемая линия попала на экран вблизи выходной щели прибора. Дальнейшее перемещение столика производят микромет-ренным винтом, следя за показаниями гальванометра. [12]
Оптическую плотность почернения спектральных линий на фотопластинке измеряют при помощи микрофотометра. [13]
По величинам почернений спектральных линий определяемых элементов в образце сплава находят величины gctk по градуировочным графикам и вычисляют концентрации элементов в пробе. [15]
Страницы: 1 2 3 4