Почернение - спектральная линия
Cтраница 3
 |
Общий вид ыикрэфотометра типа МФ-4. [31] |
Микрофотометры предназначены для измерения плотности почернения спектральных линий в спектрофотограммах, поэтому иногда их называют микроденсографы. [32]
 |
Физико-химические свойства. [33] |
Определение основано на измерении разности почернения спектральных линий алюминия, ванадия, кремния, лития, меди, никеля, олова, сурьмы, титана, хрома, цинка, магния и фона в дуговом спектре, полученном на спектрографе при испарении анализируемой пробы, из канала угольного электрода в дуге переменного тока. В качестве аналитических используют линии А1 308 21 и 256 79 нм; V 318 5 нм; Si 243 51 нм; Li 323 2 и 670 6 нм; Mg 285 2 нм; Си 324 75 и 282 4 нм; Ni 305 08 и 341 47 нм; Sn 317 5 и 283 8 нм; Sb 259 8 нм; Ti 324 19 нм; Сг 425 43 и 284 32 нм; п 334 5 нм. [34]
Определение основано на измерении разности почернения спектральных линий платины ( или палладия) и фона в дуговом спектре, полученном на спектрографе при испарении анализируемой пробы из канала угольного электрода в дуге переменного тока. В качестве аналитических используют линии платины 265 94 нм и палладия 342 12 нм. [35]
Построение характеристической кривой фотопластинки и измерение почернений спектральных линий представляют собой основу техники количественного фотографического спектрального анализа. По характеристической кривой определяют область нормальных почернений фотоэмульсии и производят исключение фона из результатов измерений почернения линий. Характеристическая кривая необходима также для перехода от почернений спектральных линий к их интенсивностям. Другими словами, характеристическая кривая представляет собой градуировочную характеристику фотоэмульсии, с помощью которой может осуществляться переход от измеренных почернений фотослоя к значению воздействовавшей на него энергии за время экспозиции. [36]
Прежде всего было установлено, что разность почернений выбранных спектральных линий в спектрах продуктов контактно-искрового переноса не зависит от намагниченности сплава. При этом существенно проявляются особенности в эффекте полярности переноса. [37]
Таким образом, содержание элементов определяют путем измерения почернений спектральных линий на фотопластинке. [38]
Полуколичественное определение Li и Rb проводят сравнением интенсивности почернения спектральных линий исследуемых элементов в пробе и эталонных образцах. Для приготовления эталонов пользуются стандартными растворами I и II. [39]
Полуколичественное определение Li и Rb проводят сравнением интенсивности почернения спектральных линий исследуемых элементов в пробе и эталонных образцах. Для приготовления эталонов пользуются эталонными растворами лития и рубидия. Разбавляя их смесью хлоридов, получают серию эталонных растворов с содержанием от 0 01 до 10 мкг в 1 мл и Rb-от 0 1 до 100 мкг в 1 мл. [40]
Полуколичественное определение Li и Rb проводят сравнением интенсивности почернения спектральных линий исследуемых элементов в пробе и эталонных образцах. Для приготовления эталонов пользуются стандартными растворами I и II. Разбавляя их смесью хлоридов, получают серию стандартных растворов с содержанием Li от 0 01 до 10 мкг в 1 мл и Rb - от 0 1 до 100 мкг в 1 мл. [41]
В случае, когда сплав является анодом, разность почернений спектральных линий не изменяется, однако проявляется различие в интенсивности спектра при одинаковых условиях переноса - спектр намагниченного сплава имеет меньшую интенсивность. [42]
Полу количественное определение Li и Rb проводят сравнением интенсивности почернения спектральных линий исследуемых элементов в пробе и эталонных образцах. Для приготовления эталонов пользуются эталонными растворами лития и рубидия. Разбавляя их смесью хлоридов, получают серию эталонных растворов с содержанием от 0 01 до 10 мкг в 1 мл и Rb-от 0 1 до 100 мкг в 1 мл. [43]
 |
Ошибка нерегистрирующего микрофотометра, появляющаяся вследствие флуктуации почернения.| Определение с помощью ха. [44] |
Если характеристическая кривая эмульсии известна, то по двум измеренным почернениям спектральных линий S и 5х2 ( рис. 112) мы можем получить разность логарифмов интенсивностей lg / я 2 - lg А. [45]
Страницы: 1 2 3 4