Cтраница 3
Результат анализа не зависит от абсолютной величины почернения аналитических линий. [31]
В аналитической практике обычно ограничиваются измерением разности почернений аналитической линии определяемого элемента и линии сравнения, а иногда измерениями почернений одной только линии определяемого элемента и не определяют по ним сами интенсивности. При фотографической фотометрии необходимо строго соблюдать время экспозиции, условия освещения щели спектрального прибора и пользоваться пластинками определенного сорта, проявляя их всегда 5 - К / Я WOk - s B одних и тех же условиях. [32]
В аналитической практике обычно ограничиваются измерением разности почернений аналитической линии определяемого элемента и линии сравнения, а иногда измерениями почернений одной только линии определяемого элемента и не определяют по ним сами интенсивности. При фотографической фотометрии необходимо строго соблюдать время экспозиции, условия освещения щели спектрального прибора и пользоваться пластинками определенного сорта, проявляя их всегда в одних и тех же условиях. [33]
![]() |
Влияние содержания фтористого лития на разность почернений дуговых линий и фона AS. [34] |
Чувствительность спектрального анализа определяется в первом приближении отношением почернения аналитической линии к почернению фона. Буферное соединение на различных участках спектра не одинаково влияет на интенсивность фона. [35]
Концентрация искомого элемента в спектральных методах определяется по почернению выбранной аналитической линии: в определенных интервалах концентрации данного элемента для данной аналитической линии существует линейная зависимость между почернением аналитической Линии и логарифмом концентрации элемента. [36]
![]() |
Схема вакуумного фотоэлектрического спектрометра ДСФ-31 с дифракционной решеткой. [37] |
В результате получают диаграмму, которая позволяет количественно установить почернение аналитических линий определяемых элементов и линий сравнения. Различие в почернении Д5 двух таких линий является относительной мерой их интенсивности и используется как характеристика содержания определяемого элемента в пробе. [38]
В тех случаях, когда в спектре имеется фон или почернение аналитических линий при малых содержаниях определяемого элемента лежит в области недодержек, калибровочный график, построенный в координатах s - 1дС, искривляется. [39]
А именно, градуировочный график линеен только тогда, когда почернения аналитических линий не искажаются вследствие самопоглощения, фонового излучения или наложения со стороны посторонних линий. При таких благоприятных условиях аналитическую кривую можно построить точно по двум или трем эталонным образцам. В отсутствие таких идеальных условий необходимо тем больше точек на аналитической кривой, чем больше ее кривизна и чем выше требуемая точность анализа. Однако обычно неудобно использовать более пяти эталонных образцов. [40]
В спектрограммах эталонов и анализируемых образцов для каждой примеси измеряют почернение аналитической линии примесей So Ф, почернение соответствующего фона 5ф, вычисляют Д5 5п Ф - 5ф и для каждого образца находят среднее значение Д5т по снятым для него двум спектрограммам. [41]
Таким образом, если о концентрации определяемых элементов судят по абсолютным почернениям аналитических линий, то в результате анализа с самого начала закладывается до 25 % погрешности. При использовании фона в качестве внутреннего стандарта погрешность несколько снижается, но все еще достаточно велика. Значительно лучшие результаты получаются при использовании в качестве внутреннего стандарта специально введенного в пробу элемента сравнения. [42]
С увеличением концентрации бария в пробах, не содержащих буфера, почернение аналитических линий всех элементов повышается. Наибольший рост наблюдается при добавлении первых порций бария. По мере добавления к пробе фтористого лития влияние бария снижается. Одновременно повышается разность почернений линий и фона. Этот рост не во всех случаях одинаков. Почернение линии свинца повышается вплоть до 30 % фтористого лития, в то время как для других элементов наблюдается максимум. При определенной концентрации в пробе фтористого лития влияние бария полностью подавляется. Приведенные концентрации буфера, необходимые для подавления влияния бария, справедливы лишь для. Более того, даже при использовании других аналитических линий картина может измениться. [43]
Метод постоянного графика применяется главным образом в тех случаях, когда почернение аналитических линий, по которым ведется фотометрирование, находится в области недодержек. Это дает возможность по градуировочному графику определять более точно малые концентрации химических элементов. [44]
Буква и во второй колонке таблицы указывает на то, что почернение аналитической линии легирующего элемента нужно измерять по отношению к почернению фоня вблизи линии. Числа, указанные после мешающих линий, обозначают относительные интенсивности линии ( из таблиц); R обозначает резонансные линии. [45]