Cтраница 3
Кристаллофосфор, приготовленный из вольфрамового ангидрида, карбонатов лития и магния и активированный марганцем, имеет яркую красную флуоресценцию, интенсивность которой зависит от концентрации марганца. Спектр флуоресценции литий-магний-вольфраматного кристаллофосфора, активированного марганцем, представляет собой бесструктурную полосу с максимумом 668 ммк. Для количественного определения марганца использован метод фотографирования флуоресценции полученных кристаллофосфоров с заранее приготовленной шкалой и фотометрирования возникших на фотопластинке пятен. Зависимость между разностью почернений пятна и фона ( AS) и логарифмом количества марганца в кристаллофосфоре является линейной в интервале от 0 001 мкг до 0 1 мкг в 50 мг основы. [31]
Кристаллофосфор, приготовленный из вольфрамового ангидрида, карбонатов лития и магния, активированный марганцем, имеет ярко-красную флуоресценцию, интенсивность которой зависит от концентрации марганца. Спектр флуоресценции литий-магний-вольфраматного кристаллофосфора, активированного марганцем, представляет собою бесструктурную полосу с максимумом 668 ммк. Для количественного определения марганца использован метод фотографирования флуоресценции приготовленных кристаллофосфоров с заранее приготовленной шкалой и фотометрирования полученных на фотопластинке пятен. Зависимость между разностью почернений пятна и фона ( AS) и логарифмом количества марганца в кристаллофосфоре является линейной в интервале от 0 001 до 0 1 мкг в 50 мг основы. [32]
Переход в расчетных формулах от максимальной к интегральной интенсивности в принципе требует и соответствующего изменения способа оценки интенсивностей пятен рентгенограмм. Возникает необходимость промера распределения интенсивности по площади пятна и суммирования этой интенсивности. На практике, однако, дело обстоит значительно проще. С другой стороны, найдено, что при чисто визуальной оценке почернения пятен рентгенограмм ( без интегрирования) экспериментальные и расчетные данные совпадают друг с другом в пределах указанной погрешности. [33]
Для определения сульфидов анализируемый щелочной раствор помещают в цилиндрическое отверстие специальной кюветы, которую накрывают фотопластинкой эмульсией вниз. После экспонирования измеряют почернение пятна по его диаметру на микрофотометре МФ-2 с шириной щели 0 25 мм в 10 точках через равные интервалы. Параллельно проводят контрольный опыт. При использовании высокочистой щелочи почернение пятна в контрольном опыте равно нулю. Массовую концентрацию сульфид-ионов в растворе находят по градуировочному графику. [34]
Интервалы между экспозициями следует брать неравномерными, так как почернение пленки не пропорционально интенсивности. Марки должны охватывать весь возможный интервал почернения: от исчеза-юще слабого до предельно черного. Шкалу марок готовят на пленке того же сорта и пользуясь тем же излучением, которое предполагается применять при структурном исследовании. Большую роль играет также равноценность режимов проявления и фиксирования пленки. Наилучшие результаты дает нанесение марок непосредственно на рентгенограмму, снимаемую с исследуемого кристалла при каждой съемке. При оценке интенсивностей пятен рентгенограмм пленку с марками накладывают на рентгенограмму так, чтобы сопоставляемые пятна располагались в непосредственной близости друг к другу. В этом случае суммарное почернение пятна ( дифракционное почернение - f - фон) будет сравниваться с видимым почернением в месте нахождения марки ( почернение марки - f - фон), чем исключается ошибка, связанная с наличием фона. [35]