Проводимость - образец - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Земля в иллюминаторе! Земля в иллюминаторе! И как туда насыпалась она?!... Законы Мерфи (еще...)

Проводимость - образец

Cтраница 3


Таким образом, время релаксаций наиболее медленной компоненты целиком определяется проводимостью образца.  [31]

Экспериментально эксклюзия неосновных носителей изучалась главным образом по переходным и стационарным изменениям проводимости образца в зависимости от напряжения л температуры. Ниже для линейного одномерного случая выводится формула для изменения проводимости G в функции от параметров образца. Рассматривается брусок длины L с прямоугольным сечением площади А. На концах образца сделаны низкоомные плоскостные контакты. Изменение проводимости G не зависит от пространственного распределения убыли концентрации носителей тока в образце. Диффузией носителей для простоты пренебрегаем.  [32]

Была установлена четкая антибатная связь между активностью и электропроводностью: чем большей была исходная проводимость образца, тем меньшей оказывалась его активность. Литий, введенный в кристалл, выступал в роли яда.  [33]

34 Импульсы тока ( а и напряжения ( б на образце. [34]

В данной работе для определения времени жизни неосновных носителей заряда используется явление модуляции проводимости образца при введении в него неравновесных носителей заряда.  [35]

Выше этой температуры происходит падение интенсивности поглощения, сопровождающееся диэлектрическими потерями за счет повышения проводимости образца.  [36]

Определенное таким образом значение VBo зависит от положения уровня Ферми и, следовательно, от проводимости образца.  [37]

Следует заметить, что коэффициент С не зависит от уровня Ферми и, следовательно, от проводимости образца, в то время как vs зависит от нее.  [38]

Если приложить переменное поле перпендикулярно поверхности, так что полупроводник является одной из пластин конденсатора, то по изменению проводимости образца можно определить эффективную подвижность носителей тока, индуцируемых этим полем.  [39]

Результаты § 2 можно применить к задаче об определении положения шергетических зон на свободной поверхности полупроводника по известному изменению проводимости образца относительно проводимости при определенном положении зон.  [40]

Поскольку ш0 пропорциональна В0 ( при условии, что коэффициент в скобках в правой части (13.11.22) положителен, как это обычно бывает), проводимость образца уменьшается с увеличением магнитного поля. Физическая причина его заключается в том, что сила Лоренца искривляет траектории движения некоторых носителей.  [41]

Поскольку со0 пропорциональна В0 ( при условии, что коэффициент в скобках в правой части (13.11.22) положителен, как это обычно бывает), проводимость образца уменьшается с увеличением магнитного поля. Физическая причина его заключается в том, что сила Лоренца искривляет траектории движения некоторых носителей.  [42]

43 График зависимости изменения величины начального напряжения на образце от времени задержки между инжектирующими импульсами тока. [43]

Напряжение с образца подается на ограничитель импульсов ОГР, так как величина импульсов напряжения, возникающих на образце, значительно превышает изменение напряжения, вызванное модуляцией проводимости образца; с ограничителя импульсов напряжение подается на осциллограф ОСЦ.  [44]

Взаимодействие атомарного водорода со свежеприготовленным образцом окиси цинка, впервые помещенным в реакционный объем, приводит к резкому ( более чем в 1000 раз) увеличению проводимости образца.  [45]



Страницы:      1    2    3    4