Проектирование - топология
Cтраница 3
Задача размещения вершин графа на плоскости связана с инженерной задачей, возникающей при проектировании топологии сверхбольших интегральных схем - планированием кристалла СБИС. Это - одна из задач, определяющая качество конструкторского проектирования СБИС. Задача планирования кристалла состоит в назначении данного множества модулей на плоскости с минимизацией суммы площади при размещении заданных прямоугольников и минимизации суммарной длины цепей, которые должны соединять модули. Тогда проблема планирования может быть определена как оптимизационная проблема, и, следовательно, для ее решения можно использовать методы ЭМ. [31]
Данные, полученные в результате выполнения первых двух этапов, являются исходной информацией для проектирования топологии ИМС. [32]
 |
Структура лингвистического ИНСАПР. [33] |
Маршрут прохождения проекта включает следующие этапы: ввод исходных данных и их корректировку; проектирование топологии печатной платы; доработку проекта в интерактивном режиме; получение конструкторской документации. [34]
Отметим, что использование функционально-интегрированных элементов в качестве базовых для построения БИС способствует автоматизации проектирования топологии БИС, так как проектирование топологии БИС и их элементов может проводиться в значительной степени независимо. [35]
Следует отметить, что использование функционально-интегрированных элементов в качестве базовых для построения БИС способствует автоматизации проектирования топологии БИС, так как проектирование топологии БИС и их элементов может проводиться в значительной степени независимо. [36]
В настоящей книге показано, что использование графов является весьма удобным и при решении задач проектирования топологии дискретных устройств. Это объясняется тем, что граф, сохраняя всю наглядность и содержательность отображаемого им объекта, позволяет также строить формальные алгоритмы преобразований и при использовании своих матричных эквивалентов легко обрабатывается на ЦВМ. Построение алгоритмов, удобных для реализации на ЦВМ, является весьма важным, так как целью работы является разработка и исследование методов, пригодных непосредственно для практического использования. [37]
Различного рода матрицы производные от матриц R и /, которые необходимы для построения конкретных алгоритмов проектирования топологии, будут описаны ниже при обосновании этих алгоритмов. [38]
Таким образом, проведение размещения и трассировки элементов БИС в тесном взаимодействии позволяет достичь высокого качества проектирования топологии БИС. [39]
В последнее время ведутся интенсивные работы в области разработки методов оптимального разбиения систем на отдельные БИС, автоматизации проектирования топологии БИС, методов уменьшения длины межэлементных соединений и сокращения числа пересечений, оптимального размещения функциональных элементов на кристалле. [40]
В связи с быстрым ростом степени интеграции микросхем решение задач компоновки, размещения и трассировки, возникающих при проектировании топологии БИС, осуществляется с помощью ЭВМ. По этой причине большинство методов, излагаемых в настоящей главе, ориентировано не на разработку топологии БИС вручную, а на автоматизированное проектирование топологии с помощью ЭВМ. [41]
Отметим, что использование функционально-интегрированных элементов в качестве базовых для построения БИС способствует автоматизации проектирования топологии БИС, так как проектирование топологии БИС и их элементов может проводиться в значительной степени независимо. [42]
Следует отметить, что использование функционально-интегрированных элементов в качестве базовых для построения БИС способствует автоматизации проектирования топологии БИС, так как проектирование топологии БИС и их элементов может проводиться в значительной степени независимо. [43]
 |
Этапы машинного проектирования БИС. [44] |
Основными этапами машинного проектирования являются: формирование цели разработки; проектирование функциональной схемы ( ПСхФ); проектирование электрической схемы ( ПСхЭ); проектирование топологии ( ПТоп); синтез контрольных и диагностических тестов ( СКДТ); подготовка автоматизированного производства ( ПП), включая выпуск конструкторской документации ( КД) и формирование управляющих программ ( УП) для технологического и контрольно-измерительного оборудования. [45]
Страницы: 1 2 3 4