Cтраница 1
Ионный проектор дает возможность наблюдать одиночную адсорбированную молекулу на поверхности металла и установить ее локализацию на поверхностных центрах. [2]
Ионный проектор ( автономный микроскоп) способен разрешать отдельные атомы на острие металлической проволоки. Проволока служит катодом с сильным электрическим полем у его конца. [3]
Ионный проектор позволяет различать отдельные атомы в решетке, но пока применяется для исследования молибдена, вольфрама и других металлов, температура плавления которых не ниже, чем у железа. [4]
Способность ионного проектора разрешать детали расположения атомов на поверхности надежно доказана. Уже одно это обстоятельство чрезвычайно важно для изучения адсорбционных явлений. Однако использование возможностей проектора для исследования поверхности может оказаться полным только в том случае, если разрешаются и адсорбированные атомы газа. Ввиду особой его важности, доказательство того, что прямое наблюдение адсорбированных атомов действительно возможно, будет приведено с некоторыми подробностями. [5]
Применение ионного проектора для адсорбционных исследований еще только начинается. Поэтому пока трудно проводить подробное сравнение достижений, полученных с применением этого метода и методов флэш-десорбции и обычного электронного проектора. В настоящее время число систем, которые можно успешно исследовать в ионном проекторе, ограничено вследствие того, что для получения изображения требуются мощные поля, а также из-за десорбции адсорбированного слоя под влиянием поля и электронной бомбардировки. Однако огромная важность ионного проектора как метода исследования адсорбции совершенно очевидна из уже выполненных работ, а дальнейшие технические усовершенствования должны сильно расширить область его применения. [6]
![]() |
Иллюстрация явления ионизации атомов гелия под действием электрического поля, приложенного к поверхности металлического острия. [7] |
Метод ионного проектора рассматривается в данной главе не потому, что он прямо связан с измерениями работы выхода, а потому, что он имеет разительное сходство с методом электронного проектора, который был рассмотрен в разд. Микроскопия с помощью ионного проектора имеет огромное значение в катализе не благодаря уже достигнутым успехам, а в связи с тем, что этот метод позволяет при благоприятных обстоятельствах проводить прямое изучение катализуемых реакций на атомном уровне. Этим методом легко достигаются увеличения в миллион раз, причем его потенциальные возможности еще не раскрыты полностью. [8]
Конструкция ионного проектора в точности соответствует конструкции электронного проектора. [9]
В ионном проекторе для этого необходимо дополнительно заполнит. [10]
В ионном проекторе можно легко обнаружить процессы, протекающие на гранях с низкими индексами, в то время как наблюдение таких процессов в электронном проекторе затруднено ввиду высокой работы выхода этих граней. Возможность наблюдения с помощью ионного проектора индивидуальных атомов как в адсорбированном слое, так и в адсорбенте открывает совершенно новые возможности в исследовании поверхности. Такое возрастание разрешения должно позволить более детально оценить соотношение между структурой и поверхностными процессами. [11]
Эмиссионный микроскоп и ионный проектор позволяют визуально наблюдать образование зародышей непосредственно в момент конденсации. Разрешающая способность при этом может быть меньше 20 А. [12]
![]() |
Аррениусовская зависимость скорости адсорбции О2 на серебре.| Скорость адсорбции О2 на серебри в координатах уравнения Еловича, по данным. [13] |
Исследования с помощью ионного проектора показали, что коррозионная хемосорбция азота и окиси углерода на вольфраме происходит при комнатной и более низких температурах. [14]
![]() |
Стягивание электронов в узкий пучок и образование изображения в иммерсионном объективе ( катодной линзе. [15] |